北京机电工程研究所孙兰获国家专利权
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龙图腾网获悉北京机电工程研究所申请的专利一种基于MEMS振动传感器的过载振动数据分离方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119669642B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411500347.2,技术领域涉及:G06F18/10;该发明授权一种基于MEMS振动传感器的过载振动数据分离方法是由孙兰;刘鹏;孙建亮;叶伟峰设计研发完成,并于2024-10-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于MEMS振动传感器的过载振动数据分离方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种基于MEMS振动传感器的过载振动数据分离方法,通过建立滤波后低频过载信号和中高频振动信号的综合滤波评价指标,合理地选择滤波参数,获取最优的滤波函数,达到同时满足低频过载信号和中高频振动信号精度的目的。
本发明授权一种基于MEMS振动传感器的过载振动数据分离方法在权利要求书中公布了:1.一种基于MEMS振动传感器的过载振动数据分离方法,其特征在于,所述分离方法包括: 步骤一、利用MEMS振动传感器,获取待测目标的原始振动数据x0j,j=1,2,3,…r*fs;其中,fs为原始振动数据的采样率,r为采样时间,r*fs为x0数组的数据长度; 步骤二、令SG滤波的阶数d=1; 步骤三、获取SG滤波窗口wi,其中wi为奇数; 步骤四、针对每一个滤波窗口wi,i=1,2,...,重复以下步骤五~步骤八; 步骤五、以步骤二和步骤三分别得到的滤波阶数和滤波窗口大小wi为滤波参数,对原始振动数据x0进行SG滤波,得到滤波后的低频过载信号: x1j,i,j=1,2,3,…r*fs,i表示第i个窗口; 步骤六、基于步骤五获得的低频过载信号x1j,i,计算中高频振动信号x2j,i; 步骤七、分别对低频过载信号x1和中高频振动信号x2,以及原始振动信号x0,进行功率谱密度分析,得到相应的功率谱密度:p1k,i,p2k,i,以及p0k,k=0,1,2,…N2;其中,N为进行功率谱密度分析所需的数据长度; 步骤八、以1Hz作为低频过载信号和中高频振动信号滤波精度评价的频率分界点,计算滤波评价函数vd,i,如下式所示: 式中,k=1,…,m时,对应f0数组中,低于1Hz对应的功率谱密度; k=m+1,…,N2+1时,对应f0数组中,高于1Hz对应的功率谱密度;d为滤波阶数,i表示第i个窗口; 步骤九、寻找最优窗口大小wopt和最小滤波评价函数值vmind,wopt; 其中,滤波评价函数取最小值时即为所述最小滤波评价函数值,此时对应的窗口大小为最优窗口大小wopt; 步骤十、以1为间隔值增加滤波阶数,并判断滤波阶数d是否大于2,若是,则转至步骤十一,若否,则转至步骤四; 步骤十一、计算相邻两个最小滤波评价函数之差Δ,计算公式如下: 式中,wopt是阶数为d-1时对应的最优滤波窗口大小,w‘opt是阶数为d-2时对应的最优滤波窗口大小; 步骤十二、判断最小滤波评价函数之差Δ是否小于预设阈值;若否,则转至步骤四;若是,则阶数d-1即为最优阶数dopt; 步骤十三、以最优阶数dopt及其对应的最优窗口wopt为滤波参数,对原始信号x0进行SG滤波,得到低频过载信号x1opt; 步骤十四、根据原始信号x0和低频过载信号x1opt获取中高频振动信号x2opt。
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