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龙图腾网获悉合肥工业大学申请的专利一种非关联分组式存储器失效单元分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119673261B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411730319.X，技术领域涉及：G11C29/04；该发明授权一种非关联分组式存储器失效单元分析方法是由潘成亮;魏靓;黄亮;夏豪杰;李梓源;徐子卿;连弋恒;姜宇勋设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种非关联分组式存储器失效单元分析方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种非关联分组式存储器失效单元分析方法，首先通过芯片测试机获得全部的存储器失效单元的位置信息，形成故障位图；然后针对故障位图中的位置信息特征，基于分组原则对故障位图中的所有故障单元进行分组，形成多故障组和单故障组；再基于存储器失效单元的修复原则对每个分组中的故障单元进行修复分析，判断该存储器芯片的失效单元是否可以修复；若该存储器芯片的失效单元可以修复，则给出修复解决方案。本发明基于非关联分组式存储器失效单元分析方法，将存储器芯片的所有故障单元分成相互独立的多故障组和单故障组，进而单独的分析查找每个故障组的冗余修复方案，能够更加合理的分配冗余资源，有效的提高了存储器失效单元的修复效率。

本发明授权一种非关联分组式存储器失效单元分析方法在权利要求书中公布了：1.一种非关联分组式存储器失效单元分析方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、通过芯片测试机运行测试向量检测存储器芯片的性能，获得全部的存储器失效单元的位置信息，形成故障位图； S2、针对故障位图中的不同失效单元位置信息特征，基于故障分组的基本原则，对故障位图中的所有故障单元进行分组，形成多故障组和单故障组； 所述故障分组的基本原则包括：将所述故障位图中的所有故障单元分为多故障组和单故障组；所述多故障组是指不存在与其它故障组中故障单元具有相同行地址或列地址的多个故障单元的集合；所述单故障组是指不与其它故障共享行地址或列地址的单个故障单元；所述多故障组的故障单元集合和单故障组的故障单元集合分别通过以下式1和2表示： 1 2 式1和2中：表示多故障组集合中故障单元；表示单故障组集合中的故障单元；和分别表示该故障单元的横坐标和纵坐标； S3、基于存储器失效单元的修复原则对每个分组中的故障单元进行修复分析，判断该存储器芯片的失效单元是否可以修复； S4、若该存储器芯片的失效单元可以修复，则给出修复解决方案； 具体的，所述步骤S4具体通过以下步骤实现： S41、对单个多故障组进行建模，将该多故障组中同一线路上的故障单元进行连接，构建多故障组模式； S42、根据该多故障组中的每个故障单元的位置信息，统计该多故障组模式中的故障行数和故障列数作为修复该多故障组需要的冗余单元行数或冗余单元列数，形成该多故障组的修复方案表格； S43、重复上述步骤，得到每个多故障组的修复方案表格； S44、基于修复方案表格合理的分配冗余资源，生成最终的存储器失效单元修复解决方案：得到每个多故障组的修复方案后，利用剩余的冗余单元来修复单故障组。

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