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龙图腾网获悉北京自动化控制设备研究所申请的专利原子自旋低噪声高带宽磁场测量方法及原子磁强计获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119758189B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411736263.9，技术领域涉及：G01R33/032；该发明授权原子自旋低噪声高带宽磁场测量方法及原子磁强计是由秦杰;郭宇豪;万双爱;魏克全;董世超;马锦贵;左玉龙设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本原子自旋低噪声高带宽磁场测量方法及原子磁强计在说明书摘要公布了：本发明提供了一种原子自旋低噪声高带宽磁场测量方法及原子磁强计，包括：在驱动光工作电流IQ0上叠加高频电流微扰；在驱动光电流调制下，原子自旋光频移产生扰动，实现频率为f1的光频移调制；通过检测光电流扫描检测光频率，实时计算自旋进动信号相位扰动幅度A，当A最大时，原子磁强计灵敏度最优，通过检测光频率闭环控制，使原子磁强计保持在灵敏度最优的状态；将检测光提取到的自旋进动信号闭环锁定在90°相位，实现原子自旋低噪声高带宽磁场测量。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中缺乏小体积原子磁强计线偏振检测光频率传感手段，在实际应用环境下容易因检测光频率漂移导致原子磁强计磁场噪声、测量带宽退化的技术问题。

本发明授权原子自旋低噪声高带宽磁场测量方法及原子磁强计在权利要求书中公布了：1.一种原子自旋低噪声高带宽磁场测量方法，其特征在于，所述原子自旋低噪声高带宽磁场测量方法包括： 步骤一，在驱动光工作电流IQ0上叠加高频电流微扰，即IQ＝IQ0+I1·sin2πf1t，其中，I1为驱动光电流微扰幅度，f1为驱动光电流微扰频率，f1大于原子磁强计测量带宽，并且小于原子自旋磁共振线宽，IQ为叠加高频电流微扰后的驱动光电流；在驱动光电流调制下，原子自旋光频移产生扰动，实现频率为f1的光频移调制； 步骤二，由于光频移调制频率f1大于原子磁强计磁场测量带宽，因此检测光提取到的自旋进动信号相位存在频率为光频移调制频率f1的扰动，通过检测光电流扫描检测光频率，实时计算自旋进动信号相位扰动幅度A，当A最大时，原子磁强计灵敏度最优，通过检测光频率闭环控制，使原子磁强计保持在灵敏度最优的状态； 步骤三，将检测光提取到的自旋进动信号闭环锁定在90°相位，实现原子自旋低噪声高带宽磁场测量。

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