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龙图腾网获悉西北核技术研究所申请的专利一种像增强器孔栏时间的快速测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119779635B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411928888.5，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种像增强器孔栏时间的快速测量方法是由李冬;杨凯翔;盛亮;李郎郎;刘振;高可庆;宋岩;张美;李阳;段宝军设计研发完成，并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种像增强器孔栏时间的快速测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种光学组件的参数检测方法，具体涉及一种像增强器孔栏时间的快速测量方法，目的是解决现有激光脉冲扫描法在检测大规模的像增强器孔栏时间τ时，存在耗时耗力的问题。本发明包括：1获得X个像增强器中Y个的孔栏时间τ；2获得Y个像增强器的S11‑f关系图；3获得Y个S11‑f关系图中发射频率f均为Z时所对应的频域反射参数S11的值；4获得τ‑S11关系图；5获得剩余X‑Y个像增强器的S11‑f关系图；6获得剩余X‑Y个S11‑f关系图中发射频率f均为Z时所对应的频域反射参数S11的值；7利用τ‑S11关系图和X‑Y个S11的值，获得剩余的X‑Y个像增强器的孔栏时间τ。本发明具有节省测量时间、准确度高的有益效果。

本发明授权一种像增强器孔栏时间的快速测量方法在权利要求书中公布了：1.一种像增强器孔栏时间的快速测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、准备X个待检测的像增强器，选择其中的Y个像增强器，分别采用激光脉冲扫描法测量其孔栏时间τ，依次为τ1、τ2…τY，X≥3，2≤Y＜X，X和Y均为整数； 步骤2、对步骤1所述的Y个像增强器，分别利用网络分析仪测量像增强器中光阴极与微通道板输入面之间的频域反射参数S11随发射频率f的变化关系，分别获得Y个像增强器的S11-f关系图； 步骤3、分别获取步骤2得到的Y个S11-f关系图中发射频率f均为Z时所对应的频域反射参数S11的值，依次为S111、S112…S11Y，10MHz≤Z≤100MHz； 步骤4、在平面直角坐标系中，将点S111,τ1、S112,τ2…S11Y,τY拟合成一次函数，获得τ-S11关系图； 步骤5、对剩余的X-Y个像增强器，分别利用网络分析仪测量像增强器中光阴极与微通道板输入面之间的频域反射参数S11随发射频率f的变化关系，分别获得X-Y个像增强器的S11-f关系图； 步骤6、分别获取步骤5得到的X-Y个S11-f关系图中发射频率f均为Z时所对应的频域反射参数S11的值，依次为S11Y+1、S11Y+2…S11X； 步骤7、在步骤4获得的τ-S11关系图上分别找出S11的值为步骤6获得的S11Y+1、S11Y+2…S11X时所对应的τ值，得到剩余的X-Y个像增强器的孔栏时间τY+1、τY+2…τX，完成测量。

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