上海卫星工程研究所赵维宁获国家专利权
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龙图腾网获悉上海卫星工程研究所申请的专利平面光栅光谱仪光谱弯曲校正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119826971B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411819500.8，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权平面光栅光谱仪光谱弯曲校正方法及系统是由赵维宁;崔立红;范君杰;杨彬;陈铖设计研发完成，并于2024-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本平面光栅光谱仪光谱弯曲校正方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种平面光栅光谱仪光谱弯曲校正方法及系统，包括：步骤S1：调整平面光栅光谱仪的聚光系统和聚焦准直系统焦距相同，并设置平面光栅光谱仪放大率为1；步骤S2：设置聚焦准直系统的入射狭缝与出射狭缝等高等宽；步骤S3：计算获取聚焦准直系统的焦距与入射狭缝高度的比值；步骤S4：根据获取的比值，计算狭缝不同比例高度出射波长与狭缝中心波长的关系校正系数，以及狭缝不同比例高度出射波长校正系数；步骤S5：根据各项系数，配合光学接收探测器的像元数进行光谱仪逐像元光谱弯曲校正。本发明能够提高光谱仪的最终校准精度。
本发明授权平面光栅光谱仪光谱弯曲校正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种平面光栅光谱仪光谱弯曲校正方法，其特征在于，包括： 步骤S1：调整平面光栅光谱仪的聚光系统和聚焦准直系统焦距相同，并设置平面光栅光谱仪放大率为1； 步骤S2：设置聚焦准直系统的入射狭缝与出射狭缝等高等宽； 步骤S3：计算获取聚焦准直系统的焦距与入射狭缝高度的比值； 步骤S4：根据获取的比值，计算狭缝不同比例高度出射波长与狭缝中心波长的关系校正系数，以及狭缝不同比例高度出射波长校正系数； 步骤S5：根据各项系数，配合光学接收探测器的像元数进行光谱仪逐像元光谱弯曲校正。
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