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龙图腾网获悉武汉滨湖电子有限责任公司申请的专利基于波形熵的点迹质量评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119916317B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311371025.8，技术领域涉及：G01S7/41；该发明授权基于波形熵的点迹质量评估方法是由李翔;赵三伟;管孝伟设计研发完成，并于2023-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于波形熵的点迹质量评估方法在说明书摘要公布了：本发明属于雷达信号处理领域，具体涉及一种基于波形熵法的点迹质量评估方法。本发明根据正确目标点迹块的大量样本，分析该类点迹块各类特征距离展宽、方位展宽、多普勒通道平稳性、信噪比与检测点数比值概率密度函数的统计特性；依据各特征的概率密度函数，计算得到每个点迹块相应特征的置信度；结合层析分析法计算出各个特征相应的权值，并进行各特征进行加权求和，综合得出点迹块的质量评估。利用本发明的点迹质量评估结果，可对杂波点迹进行判断与抑制，提高数据关联准确度。

本发明授权基于波形熵的点迹质量评估方法在权利要求书中公布了：1.一种基于波形熵法的点迹质量评估方法，其特征在于：包括以下步骤， 步骤1、采集目标点迹样本，分别统计采集目标点迹块的距离展宽、方位展宽、最大幅度检测点所在的距离单元上方位多普勒通道平稳性、最大信噪比与检测点个数比值四类特征的概率密度函数； 步骤2、计算每个点迹块的四类特征的置信度； ； 式中，为第个特征的置信度；为根据第个特征的概率密度函数得到的点迹块第个特征值对应的概率密度值,表示某一点迹的第类特征属性的数值大小；为第个特征概率密度函数的最大概率密度值，其中； 步骤3、基于波形熵法，计算每个特征对应的权重，具体过程为： 某一特征的概率密度函数的离散序列值为序列，则： ， 则序列的波形熵为： ； 根据每个特征对应的波形熵计算波形熵总和： ， 其中，表示四类特征中某一特征的概率密度函数的离散序列值，其中；序列长度为；表示第个特征概率密度函数对应的波形熵数值；表示四类特征对应的波形熵的总和； 根据、求得每个特征对应的权重： ， ， 其中，表示第个特征概率密度函数对应的权重；表示点迹距离展宽特征的权重；表示点迹方位展宽特征的权重；表示点迹多普勒通道平稳性特征的权重；表示点迹信噪比与检测点个数比值特征的权重； 步骤4、计算每个点迹块的综合质量： ， 式中，为点迹块第个特征的置信度；第个特征对应的权重，其中；为当前点迹块的综合质量。

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