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龙图腾网获悉北京航天动力研究所申请的专利一种判断端面密封异常磨损的方法及计算机程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120046064B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411905349.X，技术领域涉及：G06F18/2433；该发明授权一种判断端面密封异常磨损的方法及计算机程序产品是由王晨光;董丽双;何伟锋;周琰;张栋;孟博丁;王洪福;李洋威;刘姝;刘国龙;张焜桉设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种判断端面密封异常磨损的方法及计算机程序产品在说明书摘要公布了：本发明公开了一种判断端面密封异常磨损的方法及计算机程序产品，基于多参数线性规划判断端面密封异常磨损，属于密封异常监测领域，通过对端面密封试验系统中的端面密封压缩量、温度监测点、泄漏量监测点以及压力监测点等多个监测值作为特征值，以采集的温度参数上升速率作为基础，通过考虑端面密封压缩量、泄漏量监测点以及压力监测点信号的波动情况，对当前温度上升情况进行修正，最终与预设温度上升速度阈值进行比较判断，进行多重分析判定，提升温度异常判定的精准性，同时，此方法基于一种红外端面密封测量试验装置，提高密封面温升测量的准确性。

本发明授权一种判断端面密封异常磨损的方法及计算机程序产品在权利要求书中公布了：1.一种判断端面密封异常磨损的方法，其特征在于，包括： S1：获取x次端面密封正常运转密封腔的数据； 在每一次端面密封正常运转密封腔的数据中，截取多个不同时间点对应的温度上升信号片段的多项测量参数的数值，多项测量参数为目标参数和n个决策参数，目标参数为温度参数，获得x组样本，每组样本包含n+1项测量参数，每项测量参数均包含m个数据； S2：根据S1中的温度参数数据，计算x次的温度参数的温升斜率数据；根据x个温升斜率数据，计算斜率均值与均方根值，根据斜率均值与均方根值计算得到温升斜率判断阈值[K]； S3：根据S1中的决策参数数据和温度参数数据，获得归一化决策参数数据矩阵AN和归一化目标参数矩阵TN，并根据决策参数数据矩阵AN与归一化目标参数矩阵TN获得预测权重系数矩阵[n1n2...nn]与归一化目标参数矩阵TN'，权重系数矩阵应满足约束条件； S4：对待判断数据进行处理，待判断数据包括多项测量参数的数据，多项测量参数包括目标参数和n个决策参数，目标参数为温度参数，每项测量参数均包含时间窗口长度Δt内的m个数据； 根据S3步骤和待判断数据，求得归一化温升斜率调整经验值K2'，将归一化温升斜率调整经验值K2'在样本数据范围内进行反归一化计算得到温升斜率调整经验值K2； 根据温度参数包括的m个数据，计算得到当前温升斜率K1； S5：根据温升斜率调整经验值K2与当前温升斜率K1，获得温升斜率判断值K；当K大于温升斜率判断阈值[K]，认定端面密封异常磨损，否则正常。

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