北京科技大学;散裂中子源科学中心;东北大学王沿东获国家专利权
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龙图腾网获悉北京科技大学;散裂中子源科学中心;东北大学申请的专利一种基于中子飞行时间技术的单晶单像素数据采集及解析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120064349B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510117556.7,技术领域涉及:G01N23/2055;该发明授权一种基于中子飞行时间技术的单晶单像素数据采集及解析方法是由王沿东;刘亚博;李时磊;何伦华;陈洁;牟娟;李阳;于东海;王胜杰设计研发完成,并于2025-01-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于中子飞行时间技术的单晶单像素数据采集及解析方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于中子飞行时间技术的单晶单像素数据采集及解析方法,该方法包括:对待测单晶进行初步定向;对待测单晶进行TOF衍射实验,依据初步定向的结果将待测晶面的衍射斑点转动到探测器的指定位置;依据探测器上的单像素衍射数据筛选目标像素,得到目标像素位置及其衍射谱;对其进行拟合处理,获取各像素点特定衍射晶面的晶面间距、半高宽;计算不同目标像素的点阵应变,绘制目标像素特定晶面的晶面间距分布图、点阵应变分布图、半高宽分布图,对于单晶高温合金还可以绘制错配度分布图。本发明可以提取单晶材料衍射体积内不同区域的微结构信息,对完善单晶材料设计、制备生产工艺、服役损伤评价和提高材料服役寿命具有重要意义。
本发明授权一种基于中子飞行时间技术的单晶单像素数据采集及解析方法在权利要求书中公布了:1.一种基于中子飞行时间技术的单晶单像素数据采集及解析方法,其特征在于,包括以下步骤: 对待测单晶进行初步定向; 对待测单晶进行TOF衍射实验,依据初步定向的结果将待测晶面的衍射斑点转动到探测器的指定位置,然后开始采集中子衍射数据; 提取探测器上的单像素衍射数据,根据单像素衍射数据筛选目标像素,得到目标像素位置及其衍射谱; 对最终筛选出的所有目标像素的衍射谱进行拟合处理,获取各像素点特定衍射晶面的晶面间距、半高宽; 计算不同目标像素的点阵应变,绘制目标像素的晶面间距分布图、点阵应变分布图、半高宽分布图; 所述根据单像素衍射数据筛选目标像素,包括: 获取衍射斑所在探测器的单像素原始数据,该原始数据包含探测器上每个像素的二维位置坐标,以及每个像素对应的完整一维衍射谱,其中包括晶面间距值和衍射强度值; 绘制探测器上所有像素的衍射强度二维分布图,该衍射强度是中子波段覆盖范围内的所有晶面间距值对应的衍射强度Int的总积分强度; 依据衍射总积分强度二维分布图,设置强度阈值或者直接指定目标像素的坐标位置,从而确定目标像素的位置坐标,并提取目标像素点的衍射谱; 利用模型函数对目标像素点的衍射谱进行拟合,根据不同目标像素点的原始数据峰形以及拟合方差,判断各目标像素点的数据质量是否全都符合拟合要求; 如果各目标像素点的数据质量全都符合要求,根据目标像素的位置坐标提取目标像素最终的衍射谱; 如果有目标像素点的数据质量不符合要求,对目标像素和其临近像素进行合并,并再次判断数据质量是否符合要求; 最终需确保所有目标像素的数据质量符合拟合要求。
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