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龙图腾网获悉深圳超盈智能科技有限公司申请的专利一种内存颗粒多维测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120072023B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510450632.6，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种内存颗粒多维测试方法及系统是由夏俊杰;林华胜;顾红伟;邓海滨;刘文澳设计研发完成，并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种内存颗粒多维测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种内存颗粒多维测试方法及系统，涉及内存颗粒测试技术领域，包括，安装多个待测内存颗粒形成多Rank组合，并通过设置交错映射模式模拟实际使用中的高负载环境；利用光子晶体传感器进行非接触式光波信号完整性测试，输出光波信号完整性数据；基于多Rank组合的机械性能数据和光波信号完整性数据，利用故障预测模型对潜在故障进行预测；基于故障预测模型的故障预测结果，结合线性地址和物理地址的转换，定位故障内存颗粒单元；本发明通过结合机械性能数据和光波信号完整性数据，利用故障预测模型实现潜在故障的智能分析和预警，提升了内存颗粒的稳定性和可靠性。

本发明授权一种内存颗粒多维测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种内存颗粒多维测试方法，其特征在于：包括， 安装多个待测内存颗粒形成多Rank组合，并通过设置交错映射模式模拟实际使用中的高负载环境； 利用SAW传感器进行高频振动与应力测试，实时监测多Rank组合的振动和应变，输出机械性能数据； 利用光子晶体传感器进行非接触式光波信号完整性测试，输出光波信号完整性数据，具体步骤如下， 在每个内存颗粒的信号引脚安装光子晶体传感器，并形成环绕阵列； 分别在无负载条件和施加光波信号的条件下对光子晶体传感器进行校准； 根据内存颗粒的工作频率和应用场景，设定光波信号传输的频率范围； 根据内存颗粒的电压参数和应用场景，设定信号传输的强度范围； 基于内存颗粒的引脚分布和信号走线设计，使用差分信号传输方式； 通过自动化测试设备控制信号发生器，向内存颗粒发送设定频率和强度范围的光波信号； 通过光子晶体传感器的实时监测光波信号的传播速度、振幅和相位变化； 基于实时监测的光波信号的振幅变化，计算光波信号衰减值； 基于光波信号的传播速度，计算光波信号反射系数； 通过监测的光波信号的相位变化，计算输入光波信号与输出光波信号的相位差； 将光波信号衰减值、反射系数和相位差作为光波信号完整性数据输出； 基于多Rank组合的机械性能数据和光波信号完整性数据，利用故障预测模型对潜在故障进行预测； 基于故障预测模型的故障预测结果，结合线性地址和物理地址的转换，定位故障内存颗粒单元。

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