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龙图腾网获悉杭州广立微电子股份有限公司申请的专利芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120236642B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510706792.2，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统是由王山川;蓝帆;俞姚杰设计研发完成，并于2025-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统在说明书摘要公布了：本申请涉及一种芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统。芯片读写能力测试设备与待测芯片电连接，测试设备基于接收到的控制指令，生成并向待测芯片发送控制信号、地址信号和样本数据；控制信号包括时钟选择信号；时钟选择信号为第一选择信号时，获取待测芯片的片上时钟信号并向待测芯片发送控制信号、地址信号、样本数据以及接收读取数据；控制信号包括基于片上时钟信号生成的时钟信号；时钟选择信号为第二选择信号时，向待测芯片发送控制信号、地址信号、样本数据以及接收读取数据；控制信号包括基于待测芯片工作频率生成的时钟信号；通过样本数据和读取数据，确定待测芯片测试结果。采用本设备能够降低成本、提高兼容性。

本发明授权芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片读写能力测试设备，其特征在于，所述芯片读写能力测试设备与待测芯片电性连接，所述测试设备用于基于接收到的控制指令，生成并向待测芯片发送控制信号、地址信号和样本数据；所述控制指令包括时钟选择信号；所述待测芯片包括时钟选择器、配置选择器、片上时钟源以及存储模块；所述控制信号还包括配置选择信号和配置输入信号；当所述配置选择信号为采用输入配置时，所述配置选择器基于所述配置输入信号，对所述片上时钟源和或存储模块进行配置；所述片上时钟源包括多个片上时钟生成器和时钟调整器，不同的片上时钟生成器生成不同频率的时钟信号；所述时钟调整器包括数字控制电流源、环形振荡器和反馈回路；数字信号输入所述数字控制电流源，并输出控制电流信号，所述控制电流信号和反馈电流信号通过控制环形振荡器的单级延时来控制环形振荡器的输出频率；所述反馈电流信号，是所述反馈回路对振荡频率进行降频处理和去重处理之后，通过时钟调整器中的反馈回路转换得到的；微调后的时钟信号的振荡频率稳定度高于预设值；其中，根据存储芯片的工作频率，从多个片上时钟生成器中，确定出目标片上时钟生成器，使目标片上时钟生成器生成的时钟信号的频率与存储芯片的工作频率处于同一频率范围，实现时钟信号的粗调；将多个控制信号输入时钟调整器中，对时钟信号进行微调，并得到每一控制信号对应的微调后的时钟信号振荡频率；基于存储芯片的工作频率以及每一控制信号对应的微调后的时钟信号振荡频率，确定目标控制信号；利用环形振荡器对时钟信号进行微调，并得到微调后的时钟信号的振荡频率； 当时钟选择信号为第一选择信号时，获取待测芯片的片上时钟信号，并向所述待测芯片发送控制信号、地址信号、样本数据，以及接收读取数据；其中，所述控制信号包括时钟信号，所述时钟信号基于所述片上时钟信号生成； 当时钟选择信号为第二选择信号时，向所述待测芯片发送控制信号、地址信号、样本数据，以及接收读取数据；其中，所述控制信号包括时钟信号，所述时钟信号基于所述待测芯片的工作频率生成； 所述芯片读写能力测试设备还用于通过所述样本数据和所述读取数据，确定所述待测芯片的测试结果。

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