华诺星空技术股份有限公司王在阳获国家专利权
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龙图腾网获悉华诺星空技术股份有限公司申请的专利一种粗定位与精细修正融合的扰动定位方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120524071B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511021222.6,技术领域涉及:G06F17/16;该发明授权一种粗定位与精细修正融合的扰动定位方法及系统是由王在阳;熊毅;刘任斌;扶明;江其盛;辛事宇;刘进设计研发完成,并于2025-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种粗定位与精细修正融合的扰动定位方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种粗定位与精细修正融合的扰动定位方法及系统,方法包括:获取相位原始数据并将其预处理为二维矩阵A,对A依次进行空间差分操作、沿着时间方向的相位解缠绕、时间域的去直流操作,得到初步相位还原矩阵A3;求取A3中每个空间点对应列数据的方差,得到空间上的方差曲线;对方差曲线进行中值滤波得到振动点初步判断位置L1;对每一个L1,提取空间上前后一定长度T的相位原始数据,得到每个振动点附近的数据矩阵B;对B的相位原始数据进行空间方向上的相位解缠绕操作、时间域和空间域的去直流操作,定位扰动相对位置L2,根据L2修正L1,得到最终实际位置L3。本发明具有定位效率高、定位精准快速等优点。
本发明授权一种粗定位与精细修正融合的扰动定位方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种粗定位与精细修正融合的扰动定位方法,其特征在于,包括步骤: S1、获取相位原始数据,并将其预处理为二维矩阵A; S2、对二维矩阵A进行空间差分操作,得到空间差分矩阵A1; S3、对空间差分矩阵A1进行沿着时间方向的相位解缠绕,得到解缠绕后的相位矩阵A2; S4、对相位矩阵A2进行时间域的去直流操作,得到初步相位还原矩阵A3; S5、求取初步相位还原矩阵A3中每个空间点对应列数据的方差,得到空间上的方差曲线; S6、对方差曲线进行中值滤波,去除窄尖峰噪声点,得到振动点初步判断位置L1; S7、对每一个振动点初步判断位置L1,提取空间上前后一定长度T的相位原始数据,得到每个振动点附近的数据矩阵B,此时空间位置区间为[L1-T,L1+T]; S8、对每个数据矩阵B的相位原始数据进行空间方向上的相位解缠绕操作,得到解缠绕后的相位矩阵B1; S9、对相位矩阵B1进行消除初相操作,得到相位矩阵B11; S10、对相位矩阵B11进行时间方向上的相位解缠绕操作,得到解缠绕后的相位矩阵B2; S11、对解缠绕后的相位矩阵B2进行时间域和空间域的去直流操作,得到真实相位矩阵B3; S12、对真实相位矩阵B3采用差分累加算法定位扰动相对位置L2; S13、根据扰动相对位置L2修正振动点初步判断位置L1,得到振动点最终的实际位置L3。
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