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龙图腾网获悉深圳市路畅科技股份有限公司申请的专利一种缩小最大暴露面的MCU存储区校验方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120632958B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511116134.4，技术领域涉及：G06F21/78；该发明授权一种缩小最大暴露面的MCU存储区校验方法是由于喆设计研发完成，并于2025-08-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种缩小最大暴露面的MCU存储区校验方法在说明书摘要公布了：本发明涉及汽车电子安全技术领域，本发明公开了一种缩小最大暴露面的MCU存储区校验方法，其将存储区起始地址A开始的区域逻辑划分为N个大小为P的连续分区，根据校验速度V、时间T及分区数N，动态计算各分区抽样区域大小L，确保L≤P，然后利用真随机数生成器间接产生取值范围为[0,P‑L]的分区抽样地址随机偏移量K，计算每个分区的抽样起始地址和抽样结束地址，拼接所有分区的随机偏移抽样数据，生成总校验码C；最后将随机偏移量K和校验码C存入安全区作为基准，在校验时复用K重新计算校验码C'，与安全区存储的C比对；本方法兼顾效率与安全性，适用于资源受限的嵌入式场景。

本发明授权一种缩小最大暴露面的MCU存储区校验方法在权利要求书中公布了：1.一种缩小最大暴露面的MCU存储区校验方法，其特征在于，该方法包括如下步骤： S1：对MCU存储区进行分区，将起始于存储区起始地址A的MCU存储区从逻辑上平均划分为大小为P且地址连续但不重叠的N个分区； S2：计算分区抽样校验区域大小L，L的计算公式为：； 其中，V是MCU数据校验速度，T是给定校验时间，floor是向下取整运算，min是取最小值运算； S3：计算分区抽样地址随机偏移量K，K的计算公式为：； 其中，r是由MCU内部的真随机数生成器产生的随机数，mod是取模运算； S4：计算抽样数据总校验码C，C的计算公式为：； 其中，表示各分区的抽样数据片段，||表示将各分区的抽样数据片段首尾拼接合并，S表示用于计算抽样数据总校验码的算法； S5：建立校验标准，将分区抽样地址随机偏移量K和抽样数据总校验码C存储在MCU安全存储区域； S6：MCU存储区校验，使用MCU安全存储区域中的分区抽样地址随机偏移量K和S4的方法计算得到抽样数据总校验码，并用与MCU安全存储区域中的抽样数据总校验码C进行比对，以确认存储区抽样校验是否成功。

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