季华实验室范永祥获国家专利权
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龙图腾网获悉季华实验室申请的专利一种电光晶体全固态激光雷达几何检校装置及其方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120742281B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511255867.6,技术领域涉及:G01S7/497;该发明授权一种电光晶体全固态激光雷达几何检校装置及其方法是由范永祥;陈哲;王艺鹏;曾宪锋;刘龙晖设计研发完成,并于2025-09-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电光晶体全固态激光雷达几何检校装置及其方法在说明书摘要公布了:本申请适用遥感技术领域,提供了一种电光晶体全固态激光雷达几何检校装置及其方法,该装置及其方法通过将激光雷达发射端与接收端分别进行检校的方法减少单次检校参数的数量,增加检校结果的泛化能力;然后构建检校装置测量激光雷达光斑几何坐标,最后结合发射端与接收端几何模型实现待检校参数的准确计算。存储该方法的存储介质和运行该方法的处理器也具有同样的技术效果。
本发明授权一种电光晶体全固态激光雷达几何检校装置及其方法在权利要求书中公布了:1.一种电光晶体全固态激光雷达几何检校装置,其特征在于,包括:光学成像目标板、全站仪和光斑观测相机; 所述光学成像目标板的主体为高反射平面,设置在激光雷达的激光发射方向上;所述光学成像目标板的平面边缘的4个正向和4个斜向端点处共布设有8个全站仪反射标;激光发射至所述光学成像目标板的平面上产生光斑,实现坐标测量; 所述全站仪架设在所述激光雷达光路外的区域,且能够观测到所述光学成像目标板上的8个所述全站仪反射标;所述全站仪以自身为原点构建全站仪坐标系,通过所述全站仪反射标的坐标,计算所述光学成像目标板在所述全站仪坐标系下的平面公式及对应的参数; 光斑观测相机架设在所述激光雷达光路外的区域,且能够对所述光学成像目标板进行全范围成像;所述光斑观测相机在不加滤光片时用于对8个全站仪反射标成像,实现所述光斑观测相机在所述全站仪坐标系下的位姿进行计算;所述光斑观测相机在加上滤光片后对所述光学成像目标板上的激光光斑进行成像与坐标计算; 所述电光晶体全固态激光雷达几何检校装置,通过所述光斑观测相机,对所述激光雷达在所述光学成像目标板上的光斑成像,并基于光斑观测相机坐标系进行坐标计算,继而通过所述光斑观测相机在所述全站仪坐标系下的位姿与所述全站仪坐标系的关系,换算所述光斑在全站仪坐标系中的坐标,并基于所述光斑在所述全站仪坐标系下的坐标,与激光雷达的几何模型调制参数构成等式,由此构建损失函数,实现待检校参数的计算; 所述激光雷达包括发射端和接收端;所述发射端包括沿光路依次连接的激光发射器、全透镜、电光晶体偏转器-Y、电光晶体偏转器-X、长焦镜头和短焦镜头;所述接收端包括接收透镜和单光子雪崩二极管阵列; 所述待检校参数的计算过程包括分别对所述激光雷达的发射端和接收端进行检校。
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