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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利基于引力波探测的星载望远镜后向散射光测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119805598B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411843089.8，技术领域涉及：G01V7/00；该发明授权基于引力波探测的星载望远镜后向散射光测量装置及方法是由李朝辉;薛勋;刘巍;姚佳时;毛振;赵建科;尹沙沙;刘勇;陆琳;魏紫薇;李健;李伊凡设计研发完成，并于2024-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于引力波探测的星载望远镜后向散射光测量装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于引力波探测的星载望远镜后向散射光测量装置及方法，解决了传统杂散光测量装置无法测量引力波探测系统中的星载望远镜后向散射光的问题，具体包括设置在待测望远镜入射端的激光源、准直镜、半透半反镜、探测器及锁相放发大器，和设置在待测望远镜出射端的消光腔；激光源发射测量光；准直镜对测量光准直；半透半反镜将准直后的测量光分为透射光和第一反射光，其中透射光进入待测望远镜后产生出射光和后向散射光；半透半反镜还用于对后向散射光进行反射，形成第二反射光；探测器对第二反射光进行探测；锁相放发大器输入端与探测器输出端连接，以接收待测电信号；消光腔用于对经待测望远镜后的出射光进行消光。

本发明授权基于引力波探测的星载望远镜后向散射光测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于引力波探测的星载望远镜后向散射光测量装置，其特征在于：包括设置在待测望远镜11入射端的激光源1、准直镜2、半透半反镜4、探测器5及锁相放大器，和设置在待测望远镜11出射端的消光腔9； 所述激光源1用于向待测望远镜11发射测量光； 所述准直镜2设置在测量光所在的光路上，其尺寸与待测望远镜11的入瞳大小相匹配，用于对测量光进行准直； 所述半透半反镜4设置在准直镜2与待测望远镜11入射端之间的光路上，用于将测量光分为透射光和第一反射光，其中透射光进入待测望远镜11后产生出射光和后向散射光，出射光从待测望远镜11出射端出射，后向散射光从待测望远镜11入射端出射；所述半透半反镜4还用于对后向散射光进行反射，形成第二反射光； 所述探测器5设置在第二反射光所在光路上，用于对第二反射光进行探测，并将第二反射光转换为电信号； 所述锁相放大器输入端与探测器5输出端连接，用于接收电信号，以提取待测望远镜11后向散射光的测量结果； 所述消光腔9用于对经待测望远镜11后的出射光进行消光；所述消光腔9包括依次连接的第一圆筒段91、第二圆筒段92、第三圆筒段93、第四圆筒段94；所述第一圆筒段91和第二圆筒段92的中轴线相互垂直；第一圆筒段91和第二圆筒段92连接处的内壁上设有第二高反镜95；所述第二圆筒段92和第三圆筒段93的中轴线相互垂直；第二圆筒段92和第三圆筒段93连接处的内壁上设有第三高反镜96；所述第三圆筒段93和第四圆筒段94的中轴线相互垂直；第三圆筒段93和第四圆筒段94连接处的内壁上设有第四高反镜97；所述第一圆筒段91、第二圆筒段92、第三圆筒段93、第四圆筒段94的内表面均喷涂有航天消光黑漆；所述第二高反镜95、第三高反镜96和第四高反镜97均使用超光滑加工，粗糙度小于等于0.15nm。

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