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龙图腾网获悉四川和恩泰半导体有限公司申请的专利一种存储芯片的质量评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119827944B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411865721.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种存储芯片的质量评估方法是由邓飞宇;王建全;陈克乐;骆明星;王悦聪;罗昌海;刘耀设计研发完成，并于2024-12-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储芯片的质量评估方法在说明书摘要公布了：本发明涉及数据分析技术领域，具体公开了一种存储芯片的质量评估方法，包括以下步骤：S1：确定目标芯片的质量参数，获取目标芯片的质量评分；S2：生成坐标点，对坐标点进行拟合得到拟合曲线；根据拟合曲线确定异常比例，根据总异常比例和拟合曲线确定判断值；计算平均判断值，确定异常生产线；S3：对生产序列号区间进行划分得到生产序列号子区间，对生产序列号子区间内的存储芯片进行抽检。本发明可以提高检测效率，减少质量问题芯片的遗漏。

本发明授权一种存储芯片的质量评估方法在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片的质量评估方法，其特征在于，该方法用于对不同生产线进行横向比较，包括以下步骤： S1：获取存储芯片的抽检记录，将抽检记录中的存储芯片标记为目标芯片，确定目标芯片的质量参数，所述的质量参数包括读延迟H1、写延迟H2和擦除时间H3，确定目标芯片的质量评分D=H1+H2+H3； S2：生成坐标点Bi，Di，Bi表示第i个目标芯片的生产序列号，Di表示第i个目标芯片的质量评分，对每条生产线的所述坐标点分别进行拟合得到单个生产线的拟合曲线fx，x表示所述的生产序列号，不同生产线上的存储芯片的生产序列号相同，一个生产序列号对应一个时间； 将第a个拟合曲线处于第b个拟合曲线上方的曲线部分标记为异常曲线，统计异常曲线占第a个拟合曲线的比例，将其作为异常比例，计算总异常比例A，计算判断值C，其计算公式为： ； 其中，Asta、Aend分别表示目标芯片的最小生产序列号和最大生产序列号； 计算平均判断值CPJ，当筛选值ΔC=C-CPJ≥ΔCys时，将所述的筛选值C对应的生产线作为异常生产线； S3：计算抽检长度，BCS表示预设的初始抽检长度，β表示预设的第一修正系数且β＞1，表示对C*β进行向下取整，将生产序列号区间[BDQ，BYC]划分为n长度相同的生产序列号子区间，BDQ表示当前的生产序列号，待定生产序列号BYC=BDQ+BCJ，n为预设数量，按照预设的抽检比例对所述的生产序列号子区间对应的存储芯片进行抽检。

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