西安电子科技大学;西安电子科技大学杭州研究院毕鸿锋获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学;西安电子科技大学杭州研究院申请的专利一种电磁环境自适应路径规划采样方法及相关设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119846967B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510022785.0,技术领域涉及:G05B13/04;该发明授权一种电磁环境自适应路径规划采样方法及相关设备是由毕鸿锋;李保珠;姜文;洪涛设计研发完成,并于2025-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电磁环境自适应路径规划采样方法及相关设备在说明书摘要公布了:本发明公开了一种电磁环境自适应路径规划采样方法及相关设备,通过Voronoi剖分来进行空间填充,计算每条潜在的移动路径周围的空间分布稀疏程度和局部变化非线性程度,得到每条路径的移动权重。最后利用Dijkstra寻径算法,进行移动路径规划,得到一条能够兼顾电磁环境全局特征和局部特征的采样移动路径,本发明在采样移动路径的选择上即兼顾了电磁环境全局特性和局部特性又对移动路径进行了合理的规划,在有限的采样点下移动最短的路径同时既不会遗漏需要重点关注区域的信息,并且全局范围上不存在监测盲区,提升了在复杂电磁环境下采样效率和精度。
本发明授权一种电磁环境自适应路径规划采样方法及相关设备在权利要求书中公布了:1.一种电磁环境自适应路径规划采样方法,其特征在于,包括以下步骤: 沿着单次路径的起始位置出发收集至少两个采样点信息; 采用Voronoi图法对已有采样点在监测区域进行剖分,构造一个有界的Voronoi图,提取每个Voronoi单元的顶点和边; 选取离最后一个采样点最近Voronoi单元的顶点作为采样移动的起点,采用Maxmin准则选取Voronoi单元的顶点作为采样终点,公式为: 其中为最后一个采样点,表示顶点所在的n个Voronoi单元的非线性变化指数; 计算每条边与最接近该条边的中心点所构成的区域的面积,作为全局分布稀疏评价指数,并将全局分布稀疏评价指数作为第一权重赋予到每条相对应的边上,在每条边所对应的Voronoi单元的中心点的周围选择合适的邻点,通过中心点和邻点之间的响应和局部的线性之间的差估计中心点附近的非线性程度,作为第二权重赋予到每条相对应的边上;基于第一权重和第二权重,得到每个Voronoi单元的边的综合权重; 第一权重为: 式中,表示第一权重,表示区域面积,N表示边的总数,表示总面积; 第二权重为: 式中,为非线性程度; 为拟合一个覆盖中心点和邻点的超平面估计每条边所对应的中心点梯度; 根据每条边的综合权重利用Dijkstra寻径算法,在采样起点和终点之间沿着边选择综合权重最大的移动路线作为最优采样移动路径; 沿着最优采样移动路径,按照设定的采样步长采样,满足采样精度或者达到采样点数量预设的上限时停止迭代,否则继续进行路径规划自适应采样迭代。
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