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龙图腾网获悉合肥工业大学申请的专利一种基于振镜扫描的快速单像素成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119916575B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510048831.4，技术领域涉及：G02B26/08；该发明授权一种基于振镜扫描的快速单像素成像方法是由马孟超;侯洁婷;高卓;贾亦祺;钟翔;邓华夏设计研发完成，并于2025-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于振镜扫描的快速单像素成像方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于振镜扫描的快速单像素成像方法，包括通过对哈达玛矩阵进行切片和重构获得创新的扫描基图；利用振镜连续性的快速扫描遍历目标图像的调制过程，减少需要调制的掩膜图案数量；基于差分测量的方式获得各个扫描基图的哈达玛系数，包括获取利用正哈达玛扫描基图和负哈达玛扫描基图差分调制后的光强值，计算得到目标图像的哈达玛系数；获取到目标图像的哈达玛系数后，构成哈达玛频谱，并对哈达玛频谱进行逆变换，得到重建后的目标图像。本发明解决了传统单像素成像技术调制掩膜数量多和内存消耗大的问题，同时缩短了掩膜图案的生成时长和成像时间，拓展了单像素成像技术的应用前景，尤其是在工业零件检测和医学成像等领域。

本发明授权一种基于振镜扫描的快速单像素成像方法在权利要求书中公布了：1.一种基于振镜扫描的快速单像素成像方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1、根据靶标所需分辨率对哈达玛基图进行切片重构生成扫描基图，其具体步骤包括： 通过对哈达玛矩阵的研究和分析，对哈达玛矩阵的列进行切片，得到若干一阶列向量； 通过复制的方式对切片进行重构，得到创新的扫描基图，扫描基图记为；其中，扫描基图由M个列向量构成，每个列向量记为： ； 步骤S2、利用振镜周期且连续的扫描特性精准的遍历目标区域的调制过程； 步骤S3、基于差分测量的方式，捕获被正哈达玛扫描基图和负哈达玛扫描基图调制过后的光强值； 步骤S4、计算获取对应频率点的哈达玛系数，构成哈达玛频谱，其具体步骤包括： 采用差分测量的手段，同时适配数字微镜阵列DMD的结构特性，数字微镜阵列DMD在工作时镜面倾斜不同的角度以达到把光信息反射或者保留到光阱中，得到特定编码照明图案； 基于差分测量的方式获得各个扫描基图哈达玛系数： 其中，和分别为目标图像被正哈达玛扫描基图和负哈达玛扫描基图差分调制之后对应的光强值，光强值获取表达式为： 上式中，为光强值，是每张编码图案对应的测量次数，是每次调制过程中光强值的重复采集次数，是对应第张编码图案和目标信息进行调制，是舍弃的属于数字微镜阵列DMD过度状态的光强值数量，是光电探测器接收到的被每张掩膜图案调制过后的原始光强值； 通过差分的方式计算获取到目标图像对应的哈达玛系数后，得到哈达玛频谱： ； 步骤S5、对哈达玛频谱进行逆变换，得到重建后的目标图像。

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