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龙图腾网获悉苏州镭核激光科技有限公司申请的专利一种用于MicroLED阵列激光快速修复的定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119927413B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510309861.6，技术领域涉及：B23K26/00；该发明授权一种用于MicroLED阵列激光快速修复的定位方法是由马凯;张培磊;冯凯设计研发完成，并于2025-03-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于MicroLED阵列激光快速修复的定位方法在说明书摘要公布了：本发明涉及MicroLED阵列激光修复技术领域，且公开了一种用于MicroLED阵列激光快速修复的定位方法，包括：1在设备成像视野内构建起坐标参考系，以阵列的一个固定角、边界当作基准原点，按照水平和垂直方向设定坐标轴，对于不同尺寸和规格的MicroLED阵列，调整坐标系统的单位长度和覆盖范围，确保涵盖整个阵列区域。该一种用于MicroLED阵列激光快速修复的定位方法可以使定位系统与MicroLED阵列的实际物理位置更加匹配，减少因坐标系不精确导致的定位误差，多次对缺陷区域进行定位可以对每次定位的结果进行对比和校正，有效减少单次定位可能产生的误差累积，特别是在处理复杂的MicroLED阵列时，多次定位能够不断优化定位结果，使最终确定的缺陷位置更加准确。

本发明授权一种用于MicroLED阵列激光快速修复的定位方法在权利要求书中公布了：1.一种用于MicroLED阵列激光快速修复的定位方法，其特征在于：包括：1在设备成像视野内构建起坐标参考系，以阵列的一个固定角、边界当作基准原点，按照水平和垂直方向设定坐标轴，对于不同尺寸和规格的MicroLED阵列，调整坐标系统的单位长度和覆盖范围，确保涵盖整个阵列区域； 2运用高分辨率光学成像设备，对MicroLED阵列实施全面扫描成像，系统依据预设的图像分析算法，识别出存在像素不亮、亮度异常、颜色偏差和其他问题的潜在缺陷区域，进行缺陷初步识别与标记； 3对于初步标记的缺陷区域，采用亚像素级别的定位算法进行精确的定位； 4多模态数据融合定位，引入电学检测数据，利用机器学习算法对多模态数据进行处理，更准确地确定缺陷的真实位置； 5进行坐标转换和校准操作，根据成像设备与激光加工设备之间的几何关系，建立起两者坐标系之间的转换模型，将成像设备图像坐标系转换到激光加工设备的运动坐标系中，确保激光束准确照射到缺陷位置； 所述1中的基准原点选择MicroLED阵列中易于识别的物理标记包括工艺预设的十字标记、特定电极结构、封装边界角点，光学特征提取包括：通过高分辨率工业相机采集阵列图像和使用图像处理算法自动识别基准点坐标； 所述2和3之间可以采用激光测距辅助定位，使用共焦激光传感器、白光干涉仪测量MicroLED表面高度，补偿基板翘曲或装配倾斜； 所述4还可以引入光学图像数据，在电学检测数据中通过电学检测能够确定存在开路、短路的电学性能异常的位置，将这些电学异常位置与光学图像中识别出的缺陷位置进行比对和融合分析。

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