中国科学院西安光学精密机械研究所王璞获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利高功率激光光学镜头的热光学特性综合测量系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119935503B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510020244.4,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权高功率激光光学镜头的热光学特性综合测量系统及方法是由王璞;眭越;李成尧;张毅辉;李铭;达争尚;李红光;段亚轩设计研发完成,并于2025-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本高功率激光光学镜头的热光学特性综合测量系统及方法在说明书摘要公布了:本发明涉及热光学特性测量系统及方法,具体涉及高功率激光光学镜头的热光学特性综合测量系统及方法,用于解决使用激光焦点分析仪测量高功率激光系统的热光学特性存在测量场景局限性、信息获取单一、缺乏互检手段的不足之处。该高功率激光光学镜头的热光学特性综合测量系统,包括激光光源、第一转动式高反镜、第二转动式高反镜和控制电脑,其中激光光源包括出射光路互相垂直且相交的高功率激光光源、低功率激光光源,本发明通过第一转动式高反镜、第二转动式高反镜实现了高功率激光和低功率激光在镜头测量区域的光路一致,实现测量过程中的两个光路的共光轴,减小了测量系统的误差。
本发明授权高功率激光光学镜头的热光学特性综合测量系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种高功率激光光学镜头的热光学特性综合测量系统,其特征在于:包括激光光源、第一转动式高反镜3、第二转动式高反镜4和控制电脑; 所述激光光源的光路上沿其传输方向依次设置有X点、Y点,激光光源的光路在Y点被分为第一检测光路和第二检测光路,第一检测光路和第二检测光路分别设置有第一测量装置5、第二测量装置6;待测的高功率激光光学镜头01设置在激光光源的光路上,且位于X点与Y点之间;X点设置所述第一转动式高反镜3,Y点设置所述第二转动式高反镜4; 所述激光光源包括出射光路互相垂直且相交于所述X点的高功率激光光源1、低功率激光光源2,高功率激光光源1、低功率激光光源2分别用于输出高功率激光、低功率激光; 所述第一测量装置5用于测量高功率激光光学镜头01的基准焦点位置和焦点位置,或者,吸收高功率激光;所述第二测量装置6用于测量高功率激光光学镜头01的基准波前相位分布和辐照后波前相位分布; 所述第一转动式高反镜3设置有1A位置、1B位置,所述第二转动式高反镜4设置有2A位置、2B位置; 所述第一转动式高反镜3处于1A位置时,低功率激光光源2开启,高功率激光光源1关闭,第一转动式高反镜3用于引导低功率激光穿过高功率激光光学镜头01至Y点;所述第二转动式高反镜4处于2A位置,用于引导Y点处激光至第二检测光路上的所述第二测量装置6;或者,第二转动式高反镜4处于2B位置,用于使Y点处激光传输至第一检测光路上的所述第一测量装置5; 所述第一转动式高反镜3处于1B位置时,高功率激光光源1开启,低功率激光光源2关闭,第一转动式高反镜3用于使高功率激光经过X点后穿过待测的高功率激光光学镜头01至Y点,所述第二转动式高反镜4处于2B位置,用于使Y点处激光传输至第一检测光路上的所述第一测量装置5; 所述控制电脑分别连接高功率激光光源1、低功率激光光源2、第一转动式高反镜3、第二转动式高反镜4、第一测量装置5和第二测量装置6,用于控制高功率激光光源1和低功率激光光源2的开关、第一转动式高反镜3和第二转动式高反镜4的位置切换,以及控制第一测量装置5和第二测量装置6,并实时获取测量到的数据。
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