深圳中科飞测科技股份有限公司骆荣辉获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳中科飞测科技股份有限公司申请的专利一种X射线散射量测设备、监控方法及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119958472B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411997739.4，技术领域涉及：G01B15/04；该发明授权一种X射线散射量测设备、监控方法及介质是由骆荣辉;马砚忠;白园园;陈鲁设计研发完成，并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种X射线散射量测设备、监控方法及介质在说明书摘要公布了：一种X射线散射量测设备，包括X射线源、监测探测器、监测调节系统和真空准直系统，真空准直系统包括第一狭缝；X射线源发射的X射线照射第一狭缝时，X射线中被第一狭缝阻挡的部分形成第一散射X射线；监测探测器用于探测第一散射X射线并输出强度信息；监测调节系统处理强度信息得到X射线的强度监测数据，并根据强度监测数据监控X射线源。由于第一散射X射线属于被真空准直系统的第一狭缝阻挡而无法参与量测的无用X射线，利用量测光路中无用的X射线作为监测对象，无需中断量测流程即可实时监测X射线源；同时，根据实时监测结果判断X射线源的状态，可自动识别引起异常量测结果的原因并采用应对措施，保证X射线源的强度稳定性。
本发明授权一种X射线散射量测设备、监控方法及介质在权利要求书中公布了：1.一种X射线散射量测设备，其特征在于，包括： X射线源，用于发射X射线； 真空准直系统，设置于所述X射线源的X射线发射路径上，所述真空准直系统包括第一狭缝；所述X射线源发射的X射线照射所述第一狭缝时，所述X射线中通过所述第一狭缝的部分形成量测X射线束，所述X射线中被所述第一狭缝阻挡的部分形成第一散射X射线；所述量测X射线束用于照射待测样品； 探测系统，用于接收所述量测X射线束透过所述待测样品后形成的第二散射X射线，输出所述待测样品形貌的量测信息； 监测探测器，设置于所述第一散射X射线的光路上；所述监测探测器探测所述第一散射X射线，并输出所述第一散射X射线的强度信息； 监测调节系统，分别与所述X射线源和所述监测探测器连接；所述监测调节系统处理所述强度信息，得到关于所述X射线的强度监测数据，并根据所述强度监测数据对所述X射线源进行监控。
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