中国科学院半导体研究所李文昌获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院半导体研究所申请的专利运算放大器电流噪声测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119986089B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510172080.7，技术领域涉及：G01R19/00；该发明授权运算放大器电流噪声测试装置及方法是由李文昌;张益翔;阮为;贾晨强;张子欧设计研发完成，并于2025-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本运算放大器电流噪声测试装置及方法在说明书摘要公布了：本公开提供了一种运算放大器电流噪声测试装置及方法，涉及运算放大器噪声测试技术领域，旨在通过对输入端电容进行测试找到所引入极点的位置，并通过数学修正的方式补偿采样电阻和杂散电容所引入极点的影响，从而精确测出运算放大器的电流噪声特性。该装置包括：被测器件模块，包括待测的运算放大器以及采样电阻，其中，采样电阻用于将运算放大器输入端的电流噪声转化为电压噪声；辅助放大器模块，用于进一步放大电压噪声；电容测试模块，用于测试被测器件模块的总输入电容，总输入电容包括运算放大器自身的输入电容，以及系统引入的杂散电容；其中，在测试获得总输入电容后，根据总输入电容来修正噪声信号的衰减频率，得到修正后的噪声信号。
本发明授权运算放大器电流噪声测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种运算放大器电流噪声测试装置，其特征在于，所述装置包括： 被测器件模块，包括待测的运算放大器以及采样电阻，其中，所述采样电阻用于将所述运算放大器输入端的电流噪声转化为电压噪声； 辅助放大器模块，用于进一步放大所述电压噪声； 电容测试模块，用于测试所述被测器件模块的总输入电容，所述总输入电容包括所述运算放大器自身的输入电容，以及系统引入的杂散电容； 其中，在测试获得所述总输入电容后，根据所述总输入电容来修正噪声信号的衰减频率，得到修正后的噪声信号。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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