北京航空航天大学李冰获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利阻抗不匹配条件下的屏蔽线缆转移阻抗测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119986132B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510069702.3，技术领域涉及：G01R27/02；该发明授权阻抗不匹配条件下的屏蔽线缆转移阻抗测量方法是由李冰;邢嘉悦;李尧尧设计研发完成，并于2025-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本阻抗不匹配条件下的屏蔽线缆转移阻抗测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及屏蔽线缆转移阻抗测量领域，具体涉及一种阻抗不匹配条件下的屏蔽线缆转移阻抗测量方法，提高了阻抗不匹配条件下的屏蔽线缆转移阻抗测量的精度。方案包括：获取内回路近端负载Zn与内回路远端负载Zf，获取外回路相位常数β1与内回路相位常数β2，获取电压源的内部阻抗ZS与外回路远端负载ZL；测试并计算外回路特征阻抗Z1及内回路特征阻抗Z2；测试并计算内回路远端的耦合电压与电压源输出电压幅值的比值VLVS，以及近端的耦合电压与电压源输出电压幅值的比值V0VS；根据获取并计算的参量计算转移阻抗。本发明适用于屏蔽线缆转移阻抗测量。
本发明授权阻抗不匹配条件下的屏蔽线缆转移阻抗测量方法在权利要求书中公布了：1.阻抗不匹配条件下的屏蔽线缆转移阻抗测量方法，其特征在于，包括： S1、获取内回路近端负载Zn与内回路远端负载Zf，获取外回路相位常数β1与内回路相位常数β，获取电压源的内部阻抗Z与外回路远端负载Z S2、测试并计算外回路特征阻抗Z及内回路特征阻抗Z S3、测试并计算内回路远端的耦合电压与电压源输出电压幅值的比值VLV，以及近端的耦合电压与电压源输出电压幅值的比值V0V S4、根据步骤S1至S3得到的参数计算转移阻抗； 若通过测量远端耦合电压解算转移阻抗，则根据下式计算转移阻抗： 式中D、D以及常数u、v的表达式分别为： 式中，Z表示外回路第一端口与第二端口阻抗，L表示屏蔽线缆的长度； 若通过测量近端耦合电压解算转移阻抗，则根据下式计算转移阻抗： 式中，常数u、v的表达式分别为： 。
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