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龙图腾网获悉天津大学申请的专利一种联合超低频介损和宽频阻抗谱测试的电缆局部受潮评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120028654B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510074152.4，技术领域涉及：G01R31/12；该发明授权一种联合超低频介损和宽频阻抗谱测试的电缆局部受潮评估方法是由韩涛;李建达;李彦青;李忠磊;高宇;刘勇设计研发完成，并于2025-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种联合超低频介损和宽频阻抗谱测试的电缆局部受潮评估方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种联合超低频介损和宽频阻抗谱测试的电缆局部受潮评估方法，包括：S1、利用VLF获得被测电缆的介损变化率、介损随时间稳定性及介损平均值；S2、利用BIS获得时域定位图谱，并计算各反射峰的极性偏离度；S3、计算被测电缆的受潮风险指数；S4、建立局部受潮评估模型；S5、将S1～S3的数据带入S4的局部受潮评估模型，计算受潮状态评估值，并评估被测电缆的局部受潮程度。本发明综合考虑超低频介损测试VLF和宽频阻抗谱法BIS得到的指标，结合电缆本身特性，建立一种新的电缆局部受潮评估模型，提升对电缆局部受潮状态评估的准确性。

本发明授权一种联合超低频介损和宽频阻抗谱测试的电缆局部受潮评估方法在权利要求书中公布了：1.一种联合超低频介损和宽频阻抗谱测试的电缆局部受潮评估方法，其特征在于：所述方法的步骤为： S1、利用超低频介损测量仪对被测电缆进行测量，获得被测电缆的介损变化率Δtanδ、介损随时间稳定性σtanδ及介损平均值tanδa； S2、通过宽频阻抗谱法对被测电缆进行测量，得到标准化的时域定位图谱，记录除首端和尾端外的反射峰位置，按照其距首端距离依次标号后，计算各反射峰的极性偏离度δp； S3、查询被测电缆台账，结合敷设环境和敷设方式计算被测电缆的受潮风险指数DRI； S4、通过主成分分析法处理S1～S3的数据，建立局部受潮评估模型，得到各指标所占权重ωj； S5、将S1～S3的测量数据代入所述局部受潮评估模型，计算该位置的受潮状态评估值，据此评估被测电缆的局部受潮程度； 所述S2中对于同一位置含两个反射峰的极性偏离度δp计算公式为： 其中：δpk是第k个反射峰的极性偏离度； α是双峰修正系数，取值为0.4； Erk是第k个反射峰位置处右峰的极值； Elk是第k个反射峰位置处左峰的极值； dk是第k个反射峰位置到尾端反射峰的距离； A是末端反射峰的极值； 对于同一位置含单个反射峰的极性偏离度δp计算公式为： 其中：Ek是第k个反射峰的极值。

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