江门市星信光电科技有限公司刘上生获国家专利权
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龙图腾网获悉江门市星信光电科技有限公司申请的专利一种LED光源缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120253181B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510428917.X,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权一种LED光源缺陷检测方法及系统是由刘上生;袁鹏;莫华;容子超;魏家俊设计研发完成,并于2025-04-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种LED光源缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种LED光源缺陷检测方法及系统,涉及LED光源缺陷检测技术领域。该LED光源缺陷检测方法,获取LED光源在通入若干种测试电流下的光强时序图像数据和温度时序图像数据,并分析LED光源的缺陷指数集,基于LED光源的缺陷指数集分析综合缺陷评估指数,并与预设的缺陷评估区间进行判断分析,本发明通过同时采集不同电流条件下的光强时序图像和温度时序图像数据,结合多维度的特征分析,能够全面评估LED光源的缺陷,可以有效揭示LED在不同工作环境下的性能衰退,尤其是电流波动和温度变化对光强和稳定性的影响,通过分析LED光源的缺陷指数集,不仅能够捕捉到单一缺陷,还能准确地识别光源的综合性缺陷。
本发明授权一种LED光源缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种LED光源缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤: 获取LED光源在通入若干种测试电流下的光强时序图像数据和温度时序图像数据,并分别进行预处理; 对预处理后的LED光源在通入若干种测试电流下的光强时序图像数据和温度时序图像数据分别进行特征分析,得到LED光源的缺陷指数集,包括光强差异缺陷指数、电流波动缺陷指数、局部热效应缺陷指数; 对LED光源的缺陷指数集进行综合分析,得到LED光源的综合缺陷评估指数,其计算公式如下: ; 其中,、、、依次为LED光源的综合缺陷评估指数、光强差异缺陷指数、电流波动缺陷指数、局部热效应缺陷指数,、、、依次为数据库中存储的光强影响系数、电流影响系数、热效应影响系数、光强电流交互影响系数,、依次为数据库中存储的热效应调节系数、光强电流交互调节系数; 将LED光源的综合缺陷评估指数与预设的缺陷评估区间进行判断分析,若LED光源的综合缺陷评估指数处于预设的缺陷评估区间以内,则视为LED光源存在缺陷; 光强时序图像数据包括若干个时间点的光强图像,并且每个光强图像均包括若干个光源点的像素值,得到LED光源的光强差异缺陷指数的具体步骤如下: 对LED光源在通入若干种测试电流下的若干个时间点的光强图像分别进行综合分析,得到LED光源的光强差异特征集,包括在通入若干种测试电流下的若干个光源点的平均像素值、像素时间方差值、以及若干个时间点的时间像素均值; 将LED光源在通入若干种测试电流下的若干个时间点的光强图像中的若干个光源点的像素值,分别结合LED光源的光强差异特征集进行综合分析,得到LED光源的光强差异缺陷指数。
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