华中科技大学李欣获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种玉米穗粒数、穗行数和穗行粒数检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120298713B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510280766.8,技术领域涉及:G06V10/46;该发明授权一种玉米穗粒数、穗行数和穗行粒数检测方法是由李欣;王鑫哲;朱亚宁;李品哲;尹译玄;陆昊设计研发完成,并于2025-03-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种玉米穗粒数、穗行数和穗行粒数检测方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种玉米穗粒数、穗行数和穗行粒数检测方法,属于图像检测领域,该玉米穗粒数计数方法通过Transformer编码器对玉米穗图像的多尺度特征进行编码,增强了特征之间的长距离依赖关系和全局上下文信息,为点查询和Transformer解码模块提供更丰富的语义信息,解码器输出每个查询点的特征表示,为预测头的分类和定位任务提供丰富的语义信息,能够有效排除背景干扰,提高计数精度;该穗行数和穗行粒数检测方法利用聚类和基于向量的寻点更新迭代法解决了半行、非直线等玉米穗行检测中的常见问题,能够高效且准确地实现行检测和行穗数检测。
本发明授权一种玉米穗粒数、穗行数和穗行粒数检测方法在权利要求书中公布了:1.一种玉米穗行数和穗行粒数检测方法,其特征在于,包括: S1,根据待检测玉米穗图像中所有玉米粒的点坐标,对所有点进行主成分分析以计算第一主轴方向,并将所有点进行旋转以使第一主轴与x轴平行,按照x坐标从小到大进行排序,形成点集; S2,根据预设裁剪比例在x方向上对所述点集进行裁剪,将所述点集分为第一点集和第二点集;其中,所述第一点集中的点为位于所述点集中间部分的点,所述第二点集中的点为位于所述点集中其它位置的点; S3,对所述第一点集进行聚类,并将轮廓系数最高的聚类数作为最优聚类数,并根据所述最优聚类数对所述第一点集进行聚类分析,生成聚类标签,并给所述第一点集中的每个点赋予其所在行的标签; S4,采用基于向量的寻点法在所述第二点集中寻找与所述第一点集中的每一行点同行的点并赋予其所在行的标签,直至遍历所述第二点集中的所有点; 其中,所述基于向量的寻点法为:将所述第一点集中的每一行点中x坐标最小、最大的点分别作为该行的左、右边界点; 向左边寻点时,分别设定以每一行的左边界点为起点、水平向左的初始向量,将第一点集中位于第二点集左边的点按照其x坐标从大到小的顺序依次作为待处理点并执行以下操作:分别将每一行的左边界点与待处理点作连线得到新向量,并判断每一行的初始向量与新向量之间的夹角是否均不在预设角度范围内,若是,则将所述待处理点视为噪声点,否则为所述待处理点赋予所述夹角最小的一行点所在的行对应的标签,并将对应的新向量作为下一次操作时该行点的初始向量;向右边寻点时同理; S5,输出玉米穗行数和穗行粒数的检测结果。
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