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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种基于入射角调制的吸波涂层缺陷的快速检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120721760B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511181990.8，技术领域涉及：G01N22/02；该发明授权一种基于入射角调制的吸波涂层缺陷的快速检测方法是由姬金祖;陈可;马云鹏;彭朝琴;仪明旭设计研发完成，并于2025-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于入射角调制的吸波涂层缺陷的快速检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于入射角调制的吸波涂层缺陷的快速检测方法，属于缺陷检测领域，包括：初始化检测系统；对无缺陷涂层表面进行多角度入射扫频测试；设置入射方式为掠入射，对有缺陷涂层表面进行扫频测试，通过与基准数据对比分析，判定是否存在表面缺陷；设置入射方式为垂直入射，对有缺陷涂层表面进行扫频测试，判定是否存在圆状型缺陷；当确定圆状缺陷存在后，执行多角度扫频反演以量化缺陷尺寸，并利用椭圆校正模型修正得到实际物理尺寸；引入基于深度学习的自适应校准模块，得到最终缺陷尺寸。本发明可满足隐身飞机和其他航空航天设备的需求。

本发明授权一种基于入射角调制的吸波涂层缺陷的快速检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于入射角调制的吸波涂层缺陷的快速检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、初始化检测系统，设置矢量网络分析仪的工作频率范围，将待测的样件固定于三维扫描平台，将天线安装于可调节角度的天线支架上； 步骤2、对无缺陷涂层表面进行多角度入射扫频测试，得到回波信号数据并进行傅里叶逆变换得到时域数据，作为基准数据； 步骤3、设置入射方式为掠入射，对有缺陷涂层表面进行扫频测试，通过与基准数据对比分析，判定是否存在表面缺陷； 步骤4、设置入射方式为垂直入射，对有缺陷涂层表面进行扫频测试，通过与基准数据对比分析，判定是否存在圆状缺陷； 步骤5、当确定圆状缺陷存在后，执行多角度扫频反演以量化缺陷尺寸，通过不同入射角下的时域数据确定圆状缺陷在入射平面上的投影尺寸范围，并利用椭圆校正模型修正得到圆状缺陷的实际物理尺寸；不同入射角下的时域数据即多角度时域数据； 步骤6、引入基于深度学习的自适应校准模块，构建缺陷特征-尺寸映射模型，利用卷积神经网络对多角度时域数据进行联合分析，得到最终的圆状缺陷的尺寸。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京航空航天大学，其通讯地址为：100191 北京市海淀区学院路37号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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