合肥埃科光电科技股份有限公司张光宇获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥埃科光电科技股份有限公司申请的专利一种图像传感器瑕疵矫正方法、系统及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120751286B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511258245.9，技术领域涉及：H04N25/69；该发明授权一种图像传感器瑕疵矫正方法、系统及介质是由张光宇;邵云峰;杨晨飞;曹桂平;董宁设计研发完成，并于2025-09-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种图像传感器瑕疵矫正方法、系统及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种图像传感器瑕疵矫正方法、系统及介质，矫正方法包括：固定透明标靶，使其位于光源与图像传感器之间，并与图像传感器相互平行；调整标靶或图像传感器以实现相对平移或旋转，并计算调整前后图像传感器所获取的两次图像数据中同一标靶位置对应的两个像素值的比值；筛选所述比值超出预设阈值区间时，所对应的图像传感器瑕疵位置；计算所述瑕疵位置相对于所述瑕疵位置外的正常位置的矫正系数。本发明能够对图像传感器出厂后新增的瑕疵进行精准检测，只需配合透明标靶改变相对位姿即可快速对瑕疵位置进行精准定位，并结合检测过程中的数据快速分析瑕疵位置对应的矫正系数，有效提升检测效率。
本发明授权一种图像传感器瑕疵矫正方法、系统及介质在权利要求书中公布了：1.一种图像传感器瑕疵矫正方法，利用图像传感器采集不同图像数据，以确认图像传感器瑕疵位置并进行矫正，其特征在于，所述矫正方法包括： 固定透明标靶，使其位于光源与图像传感器之间，并与图像传感器相互平行； 调整标靶或图像传感器以实现相对平移或旋转，并计算调整前后图像传感器所获取的两次图像数据中同一标靶位置对应的两个像素值的比值； 筛选所述比值超出预设阈值区间时，所对应的图像传感器瑕疵位置； 计算所述瑕疵位置相对于所述瑕疵位置外的正常位置的矫正系数。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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