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龙图腾网获悉安测半导体技术(义乌)有限公司申请的专利一种用于晶圆老化测试的夹具获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120761829B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511275321.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种用于晶圆老化测试的夹具是由苏广峰;姜伟伟设计研发完成，并于2025-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于晶圆老化测试的夹具在说明书摘要公布了：本发明涉及晶圆测试技术领域，具体提出了一种用于晶圆老化测试的夹具，其包括PCB板，PCB板固定设置在上盖板的下方，固定器将探针卡固定在PCB板的下方，PCB板盖设在下盖板上方且固定器和探针卡均位于测试腔体内，固定器的内圈沿径向向内凸出形成环形承载平台，多个定位柱沿周向阵列安装在承载平台表面，探针卡的边缘沿轴向开设有多个定位孔，每个定位柱分别与一个定位孔的位置相互对应，定位柱嵌入在定位孔内，每个定位柱的侧面沿周向均弹性设置有多个回弹力可以调节的抵持柱，抵持柱的末端抵持在定位孔内表面，抵持柱可沿定位柱的径向弹性移动。本发明可以避免老化测试时的高温氛围导致的探针卡变形而引起的探针与触点之间接触效果差的问题。

本发明授权一种用于晶圆老化测试的夹具在权利要求书中公布了：1.一种用于晶圆老化测试的夹具，其包括：上盖板1、下盖板2、PCB板3、探针卡4和固定器5，下盖板2的顶部开设有测试腔体21，PCB板3固定设置在上盖板1的下方，固定器5将探针卡4固定在PCB板3的下方，PCB板3盖设在下盖板2上方且固定器5和探针卡4均位于测试腔体21内，其特征在于，还包括定位柱6，固定器5为环形，固定器5的内圈沿径向向内凸出形成环形承载平台51，多个定位柱沿周向阵列安装在承载平台51表面，探针卡4的边缘沿轴向开设有多个定位孔41，每个定位柱6分别与一个定位孔41的位置相互对应，定位柱6嵌入在定位孔41内，每个定位柱6的侧面沿周向均弹性设置有多个回弹力可以调节的抵持柱61，抵持柱61的末端抵持在定位孔内表面，抵持柱61可沿定位柱6的径向弹性移动，定位柱6还包括弹力调节结构62，定位柱6的内侧沿周向设有多个容纳腔63，每个容纳腔63通过一个限位孔631与定位柱6侧面连通，每个限位孔631内均嵌入设置有一个抵持柱61，弹力调节结构62容纳设置在容纳腔63内，弹力调节结构62弹性驱动抵持柱61沿其自身轴线往复运动且弹力可调，所述弹力调节结构62包括：弧形弹片621、圆柱凸轮622和驱动件623，弧形弹片621设置在容纳腔63内且弧形弹片621的凸面抵持在抵持柱61靠近容纳腔63的一端，弧形弹片621沿弧面周向的一端与容纳腔63顶部抵持，另一端与圆柱凸轮622周向表面抵持，驱动件623可用于驱动圆柱凸轮622绕轴线转动。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人安测半导体技术(义乌)有限公司，其通讯地址为：322000 浙江省金华市义乌市稠江街道戚继光路648号厂房(二)1楼、2楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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