深圳市时创意电子有限公司倪黄忠获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市时创意电子有限公司申请的专利一种芯片测试系统以及测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115440293B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210954206.2,技术领域涉及:G11C29/56;该发明授权一种芯片测试系统以及测试方法是由倪黄忠;俞文全;李华星设计研发完成,并于2022-08-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试系统以及测试方法在说明书摘要公布了:本发明适用于芯片测试技术领域,提供了一种芯片测试系统以及测试方法,芯片测试系统包括上位机模块;以及与所述上位机模块通信的下位机模块;所述上位机模块包括PC端以及与所述PC端连接的控制单元;所述下位机模块包括多个级联的下位机,所述下位机连接待测芯片,多个级联的所述下位机中,首位所述下位机与所述控制单元通信连接;所述控制单元根据所述PC端发送的GPIO配置信息自动配置所述待测芯片的测试主控的GPIO端口。本发明通过增加控制单元对待测芯片的测试主控的GPIO端口进行自动配置,替代了现有的手动拨码进行配置,能够节省时间与人力成本,提高对存储芯片的测试效率。
本发明授权一种芯片测试系统以及测试方法在权利要求书中公布了:1.一种芯片测试系统,其特征在于,包括: 上位机模块;以及 与所述上位机模块通信的下位机模块; 所述上位机模块包括PC端以及与所述PC端连接的控制单元; 所述下位机模块包括多个级联的下位机,所述下位机连接待测芯片,多个级联的所述下位机中,首位所述下位机与所述控制单元通信连接; 所述控制单元根据所述PC端发送的GPIO配置信息自动配置所述待测芯片的测试主控的GPIO端口; 所述上位机中还包括存储单元,用于存储配置过程中所述控制单元的配置状态的数据。
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