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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利用于绝对量子产率的测量装置和测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116481647B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310516473.6，技术领域涉及：G01J3/443；该发明授权用于绝对量子产率的测量装置和测量方法是由郑永丽;张晓东设计研发完成，并于2023-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于绝对量子产率的测量装置和测量方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种用于绝对量子产率的测量方法，其包括以下步骤：S1：在第一预定波长范围内扫描待测样品，得到待测样品发射光谱曲线S；S2：在第一预定波长范围内扫描空白背景，得到空白背景曲线B；S3：对空白背景的信号进行衰减，使空白背景信号强度落在仪器检测器的线性响应区间，在第一预定波长范围内扫描空白背景，得到衰减后空白背景曲线BND；S4：在第一预定波长范围内扫描待测样品，得到衰减后待测样品曲线SND；以及，S5：扣除衰减带来的影响，得到待测样品的绝对量子产率。本申请还涉及一种用于绝对量子产率的测量装置。本文的测量方法可用于准确测量弱发光待测样品和中等发光待测样品的绝对量子产率。

本发明授权用于绝对量子产率的测量装置和测量方法在权利要求书中公布了：1.一种用于绝对量子产率的测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： S1：在能通过检测器直接检测到待测样品发射部分信号的情况下，在第一预定波长范围内扫描所述待测样品，得到待测样品发射光谱曲线S； S2：在与所述步骤S1相同的检测条件下，将所述待测样品替换成空白背景，在第一预定波长范围内扫描所述空白背景，得到空白背景曲线B； S3：对所述空白背景的信号进行衰减，使所述空白背景信号强度落在仪器检测器的线性响应区间，在第一预定波长范围内扫描所述空白背景，得到衰减后空白背景曲线BND； S4：在与所述步骤S3相同的检测条件下，将空白背景替换成所述待测样品，在第一预定波长范围内扫描所述待测样品，得到衰减后待测样品曲线SND；以及， S5：扣除衰减带来的影响，得到所述待测样品的绝对量子产率； 在所述步骤S5中，所述扣除衰减带来的影响包括根据下述公式1计算所述待测样品的绝对量子产率： QYF=[AS-BABND-SND]DB公式1， 其中，QYF表示待测样品的绝对量子产率，AS-B表示待测样品发射信号的谱图积分面积，ABND-SND表示待测样品吸收信号的谱图积分面积，DB表示衰减倍数； 其中，所述待测样品发射信号的谱图为所述待测样品发射光谱曲线S与所述空白背景曲线B之间求差谱后得到的谱图； 其中，所述待测样品吸收信号的谱图为衰减后空白背景曲线BND与衰减后待测样品曲线SND求差谱后得到的谱图； 其中，所述衰减倍数为空白背景曲线B与衰减后空白背景曲线BND的峰值强度比。

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