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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117171599B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310958405.5，技术领域涉及：G06F18/23213；该发明授权一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法是由李新宇;桂林;高亮设计研发完成，并于2023-08-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法在说明书摘要公布了：本发明属于排序问题相关技术领域，并公开了一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法。该方法包括：S1对于规模为n采样数量为kn的排序问题，降低该排序问题的规模至m并获得确定在新的规模m下对应的采样数量；S2计算规模为m的排序问题的解的总数量以及每个解之间的距离，利用解之间的距离对所有解进行聚类，以此将所有解划分为t类，计算每类解的中心点获得t个中心点，即t个均匀采样点；S3对于任意的规模m+i的排序问题，在规模m+i‑1的排序问题进行插入新元素和随机采样得到规模m+i的排序问题对应数量的采样点；S4重复步骤S3直至m+i＝n，以此获得规模为n的kn个均匀采样点，即实现规模为n的均匀采样。通过本发明，解决排序问题中如何均匀采样的问题。

本发明授权一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法在权利要求书中公布了：1.一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法，其特征在于，该方法包括下列步骤： S1对于规模为n采样数量为kn的排序问题，降低该排序问题的规模至m并获得确定在新的规模m下对应的采样数量t，mn； 所述排序问题为置换流水车间调度问题，即若干个工件需要在若干台机器上进行加工，且工件在不同机器上的加工顺序相同，确定该若干个工件在机器上的加工顺序，以使得总的加工时间最短的问题；其中，所述规模n，m表示工件数量； S2计算规模为m的排序问题的解的总数量以及每个解之间的距离，利用解之间的距离对所有解进行聚类，以此将所有解划分为t类，计算每类解的中心点获得t个中心点，该t个中心点即为规模为m的排序问题的t个均匀采样点； S3对于任意的规模m+i的排序问题，在规模m+i-1的排序问题的Km+i-1个采样点中插入规模m+i相比于m+i-1新增加的元素，以此获得Km+i-1m+i个采样点，然后再采用随机采样的方式获得Km+i-Km+i-1m+i个采样点，将所述Km+i-1m+i个采样点和Km+i-Km+i-1m+i个采样点混合即获得规模m+i的排序问题的Km+i个采样点，i为正整数； S4重复步骤S3直至m+i=n，以此获得规模为n的kn个均匀采样点，即实现规模为n的均匀采样。

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