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龙图腾网获悉深圳砺芯半导体有限责任公司申请的专利H型树优化方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117251773B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311031902.7，技术领域涉及：G06F18/241；该发明授权H型树优化方法、装置、设备及存储介质是由朱小安;梁育;邵宇;史龙飞设计研发完成，并于2023-08-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本H型树优化方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体技术领域，公开了一种H型树优化方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取H型树中的寄存器位置；使用均值聚类算法对寄存器位置进行分类；根据分类的分类结果，得到每个类的质心位置，将质心位置作为tap点位置。获取到H型树中的寄存器位置后，使用均值聚类算法对寄存器位置进行分类，可以基于样本数据的内在结构得到寄存器的类别。根据分类的分类结果，得到每个类的质心位置，类的质心位置可以代表类的特征，然后将质心位置作为tap点位置。从而解决了H型树自动生成工具只能均匀生成的tap点的技术问题。

本发明授权H型树优化方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种H型树优化方法，其特征在于，所述H型树优化方法包括： 获取H型树中的寄存器位置； 使用均值聚类算法对所述寄存器位置进行分类； 根据所述分类的分类结果，得到每个类的质心位置，将所述质心位置作为tap点位置，所述质心位置为对应类中所述寄存器位置的平均值，所述tap点为所述H型树中用于优化寄存器布局的特定位置； 所述使用均值聚类算法对所述寄存器位置进行分类的步骤，包括： 对所述寄存器位置进行对齐，更新所述寄存器位置； 设置分类数量； 基于所述分类数量，使用K均值聚类算法对所述寄存器位置进行分类； 所述基于所述分类数量，使用K均值聚类算法对所述寄存器位置进行分类的步骤，包括： 从所述寄存器位置中选取与所述分类数量对应的初始质心； 对所述寄存器位置中的每个样本点，确定距离所述样本点最近的所述初始质心，将所述样本点类别标为所述初始质心对应的类； 基于每个类中的样本点，重新确定质心，并基于所述质心对所述寄存器位置进行分类； 所述根据所述分类的分类结果，得到每个类的质心位置，将所述质心位置作为tap点位置的步骤，包括： 定义H型树的创建规范，基于所述创建规范进行H型树综合； 在所述H型树的tap点上创建时钟； 综合所述tap点子树。

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