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龙图腾网获悉西安数合信息科技有限公司申请的专利工业缺陷图像生成方法及装置、存储介质和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118887128B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411085575.8，技术领域涉及：G06T5/70；该发明授权工业缺陷图像生成方法及装置、存储介质和电子设备是由杨涛;赵孟娇;徐冰超;郭凯星设计研发完成，并于2024-08-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本工业缺陷图像生成方法及装置、存储介质和电子设备在说明书摘要公布了：本公开提供了一种工业缺陷图像生成方法、工业缺陷图像生成装置、计算机可读存储介质和电子设备，涉及图像处理技术领域。该工业缺陷图像生成方法包括：对待去噪工业缺陷图像执行编码处理过程，以得到中间特征；编码处理过程包括至少一个第一下采样过程和至少一个第二下采样过程，第一下采样过程包括提取上下文信息的操作，第二下采样过程基于Transformer结构实现；对中间特征执行解码处理过程，以生成经去噪的工业缺陷图像；解码处理过程包括至少一个第一上采样过程和至少一个第二上采样过程，第一上采样过程基于Transformer结构实现，第二上采样过程包括提取上下文信息的操作。本公开可以生成工业缺陷图像，进而扩充模型训练的样本数据。

本发明授权工业缺陷图像生成方法及装置、存储介质和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种工业缺陷图像生成方法，其特征在于，包括： 获取待去噪工业缺陷图像； 对所述待去噪工业缺陷图像执行编码处理过程，以生成编码特征；对所述编码特征执行至少一个全局特征提取过程，以得到中间特征；其中，所述编码处理过程包括至少一个第一下采样过程和至少一个第二下采样过程，所述第一下采样过程包括提取上下文信息的操作，所述第二下采样过程基于Transformer结构实现，所述全局特征提取过程基于特征图分辨率不变的Transformer结构实现； 对所述中间特征执行解码处理过程，以生成与所述待去噪工业缺陷图像对应的经去噪的工业缺陷图像；其中，所述解码处理过程包括至少一个第一上采样过程和至少一个第二上采样过程，所述第一上采样过程基于Transformer结构实现，所述第二上采样过程包括提取上下文信息的操作； 其中，所述第一下采样过程和或所述第二上采样过程基于卷积块实现，所述卷积块包括两个残差卷积单元，每个所述残差卷积单元包括一个线性层、一个卷积层和两个上下文信息提取层；所述Transformer结构包括多层感知机单元、多头自注意力单元和归一化算子； 获取待去噪工业缺陷图像包括： 获取原始工业缺陷图像； 对所述原始工业缺陷图像进行前向扩散，以生成多个高斯噪声图像；其中，所述待去噪工业缺陷图像为所述多个高斯噪声图像中的任意一个。

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