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龙图腾网获悉中国科学院金属研究所申请的专利一种准原位追踪高温合金微量元素分布的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118961777B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410973211.7，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权一种准原位追踪高温合金微量元素分布的方法是由王绍钢;宋苾莹;刘晓光;黄亚奇;盛乃成;张磊设计研发完成，并于2024-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种准原位追踪高温合金微量元素分布的方法在说明书摘要公布了：本发明属于材料成分分析领域，特别涉及一种准原位追踪高温合金微量元素分布的方法。选择高温合金样品，将样品表面处理成镜面；对样品表面进行目标位置图案标记，标记后，将样品表面再处理成镜面；放入微区X射线荧光分析装置中，定位后进行微区X射线荧光分析；将荧光分析后的样品进行高温处理，然后利用尺寸测量技术确定氧化层厚度；利用离子减薄装置去掉氧化层；将去掉氧化层的样品定位后，放入微区X射线荧光分析装置中，进行微区X射线荧光分析，实现在高温处理条件下的微量元素分布的相对变化的准原位追踪。本发明一方面可以精确定量获得高温合金微量元素的含量，另一方面可以优化并确定其最佳分布位置，从而确定加工处理工艺。

本发明授权一种准原位追踪高温合金微量元素分布的方法在权利要求书中公布了：1.一种准原位追踪高温合金微量元素分布的方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1：选择高温合金样品，利用表面处理技术将样品表面处理成镜面； 步骤2：将步骤1的镜面样品，利用标记技术在样品表面进行目标位置图案标记； 步骤3：将标记后的样品，再次利用表面处理技术将样品表面处理成镜面； 步骤4：将步骤3获得的样品立即放入微区X射线荧光分析装置中，利用定位技术，在标记区域选择目标区域ROI，进行微区X射线荧光分析，多次重复测量，获得微量元素分布结果1； 步骤5：将微区X射线荧光分析后的样品进行高温处理； 步骤6：将高温处理后的样品，利用尺寸测量技术确定氧化层厚度； 步骤7：确定氧化层厚度后，利用离子减薄装置去掉ROI处的氧化层； 步骤8：将去掉氧化层的样品，放入微区X射线荧光分析装置中，利用定位技术，在标记区域选择目标区域ROI，进行微区X射线荧光分析，多次重复测量，获得元微量素分布结果2； 步骤9:重复步骤5～8，获得多个元素分布结果，实现在高温处理条件下的微量元素分布相对变化的准原位追踪。

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