中国科学院半导体研究所吴居平获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院半导体研究所申请的专利单相触树接地故障检测方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119224477B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310778345.9,技术领域涉及:G01R31/08;该发明授权单相触树接地故障检测方法及装置是由吴居平;金敏;龚国良;鲁华祥;申荣铉;陈刚;陈天翔设计研发完成,并于2023-06-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本单相触树接地故障检测方法及装置在说明书摘要公布了:本发明提供了一种单相触树接地故障检测方法,包括:采集配电网中的初始零序电压数据;对初始零序电压数据的波形幅值进行筛选,得到波形幅值突变的目标零序电压;判断目标零序电压是否存在拍频特征,如果是,则确定目标零序电压存在第一故障,否则,进入下一步骤;利用固定点算法对目标零序电压进行分离,判断分离后的零序电压是否存在拍频特征,如果是,则确定所述目标零序电压存在第二故障。本发明还提供了一种单相触树接地故障检测装置。本发明基于固定点算法FastICA进行单相触树接地故障检测,在保证识别能力的同时,提高识别速度,能够有效提高检测效率。
本发明授权单相触树接地故障检测方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种单相触树接地故障检测方法,其特征在于,包括: 步骤S1,采集配电网中的初始零序电压数据; 步骤S2,对所述初始零序电压数据的波形幅值进行筛选,得到波形幅值突变的目标零序电压; 步骤S3,判断所述目标零序电压是否存在拍频特征,如果是,则确定所述目标零序电压存在第一故障;否则,进入以下步骤S4; 步骤S4,利用固定点算法对所述目标零序电压进行分离,判断分离后的零序电压是否存在拍频特征,如果是,则确定所述目标零序电压存在第二故障; 所述步骤S3包括: 步骤S31,将所述目标零序电压进行快速傅立叶变换,得到目标零序电压的第一频域图; 步骤S32,在确定所述第一频域图中工频的预设邻域范围内存在多个信号峰值,且所述多个信号峰值与所述目标零序电压波形幅值的差值小于预设差值范围的情况下,确定所述目标零序电压存在拍频特征; 所述步骤S4包括: 步骤S41:将所述目标零序电压进行快速傅立叶变换,读取工频频率; 步骤S42:根据所述工频频率,构建信号观测矩阵,利用所述固定点算法对所述观测矩阵求解,得到混合矩阵A; 步骤S43:使用所述混合矩阵A,将所述目标零序电压中的工频信号分离,得到分离后的零序电压; 步骤S44:将所述分离后的零序电压进行快速傅立叶变换,得到分离后的零序电压的第二频域图; 步骤S45:根据所述第二频域图,判断所述分离后的零序电压是否存在拍频特征。
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