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龙图腾网获悉崇辉半导体(江门)有限公司申请的专利基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119246521B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411394680.X，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统是由郑建国;罗小平;李蓉华设计研发完成，并于2024-10-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统，方法包括将检测装置放置于待检测产品的预测位置，通过多光谱成像模块获取待检测产品的初始多光谱图像，并获取对应的可移动探头的起始位置；控制可移动探头沿预设路径移动，实时采集可移动探头所在位置的多光谱图像数据；对多光谱图像进行图像预处理并进行产品内部的缺陷特征检测，得到产品缺陷检测结果，并获取对应的空间位置信息，基于起始位置和预设路径获取对应的可移动探头的实时深度位置信息；将空间位置信息和对应的实时深度位置信息进行空间匹配，得到产品缺陷目标检测信息；本申请提供了一种便于满足现代工业生产对效率和成本要求的产品缺陷检测方式。

本发明授权基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，包括检测装置，所述检测装置包括多光谱成像模块和至少一个可移动探头，所述可移动探头根据控制指令可沿待检测产品表面和内部移动，所述方法包括： 将所述检测装置放置于待检测产品的预测位置，通过多光谱成像模块获取待检测产品的初始多光谱图像，并获取对应的可移动探头的起始位置； 控制可移动探头沿预设路径在待检测产品表面和内部移动，所述多光谱成像模块实时采集可移动探头所在位置的多光谱图像数据；所述预设路径根据待检测产品的结构信息生成； 对所述初始多光谱图像和多光谱图像数据的图像进行图像预处理；对预处理的初始多光谱图像和多光谱图像数据进行产品内部的缺陷特征检测，得到产品缺陷检测结果； 基于所述产品缺陷检测结果获取对应的空间位置信息，基于所述起始位置和预设路径获取对应的可移动探头的实时深度位置信息；将所述空间位置信息和对应的实时深度位置信息进行空间匹配，得到产品缺陷目标检测信息； 所述对预处理的初始多光谱图像和多光谱图像数据进行产品内部的缺陷特征检测，得到产品缺陷检测结果，包括： 获取同一个待测试产品的连续多帧的多光谱图像数据； 对同一个待测试产品的预处理的初始多光谱图像和连续多帧的多光谱图像数据进行产品内部的缺陷特征提取，构建产品的多光谱特征集，提取的特征包括颜色特征、纹理特征、形状特征和光谱特征； 在预设的缺陷检测跟踪模型中，利用机器学习算法对多光谱特征集进行分析，识别待检测产品的内部结构和表面的潜在缺陷区域，得到对应的潜在缺陷检测区域，并基于预设的缺陷检测算法对所述潜在缺陷检测区域进行产品内部结构缺陷检测，得到产品缺陷检测结果； 基于预设的缺陷分类标准对所述产品缺陷检测结果进行分类，确定缺陷的分类类型和缺陷成因，得到缺陷检测分类信息；基于所述缺陷检测分类信息对所述产品缺陷检测结果进行优化。

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