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龙图腾网获悉北京东宇宏达科技有限公司申请的专利基于红外识别的设备缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119693377B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510208765.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于红外识别的设备缺陷检测方法是由刘素玲;高山;张啸辉;郑天;王维设计研发完成，并于2025-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于红外识别的设备缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及智能监测领域，公开了基于红外识别的设备缺陷检测方法，包括红外热成像数据采集、降噪处理、非线性热传导建模、高阶偏微分优化及变分正则化反演求解步骤。红外热像仪采集设备表面温度分布数据，经多尺度小波降噪和边界热流平衡优化后，利用温度相关导热系数建立非线性热传导模型，结合高阶拉普拉斯算子优化热扩散边界，通过变分正则化方法反演缺陷热源分布，精准提取缺陷的几何特性、热学参数和位置坐标。本发明能够适应复杂工况条件，实现设备缺陷的高精度检测与特性分析，克服现有技术中噪声干扰、边界处理不足及缺陷反演能力弱等问题，广泛适用于工业设备的故障诊断与健康监测。

本发明授权基于红外识别的设备缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.基于红外识别的设备缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 采集设备表面在运行状态下的红外热成像数据，获取随时间变化的红外热分布序列； 对红外热成像数据进行降噪处理，消除高频噪声，保留有效信号，并对边界区域采用热流平衡条件优化； 构建非线性热传导模型，描述设备内部温度分布动态变化； 基于高阶偏微分扩展模型对缺陷区域的热扩散特性进行优化分析； 利用变分正则化方法对热传导模型进行优化求解，反演缺陷区域的热源分布； 根据缺陷区域的热源分布，定位设备内部的缺陷位置，并提取缺陷的几何形状和热特性； 所述降噪处理步骤包括： 对采集的热成像数据进行二维小波分解，将数据分离为高频和低频分量； 对高频分量采用软阈值滤波方法进行降噪，过滤随机噪声信号； 对低频分量保留有效信号，并对处理后的热成像数据进行重构； 所述边界区域采用热流平衡条件优化包括： 针对设备表面的复杂几何边界，设置边界条件为设备表面法线方向的热流平衡条件； 利用基于设备表面形状的Neumann边界条件，确保设备表面热流不流出边界； 所述高阶偏微分扩展模型包括： 在热传导模型中引入四阶偏微分项，通过拉普拉斯算子高阶形式描述缺陷区域边界的热扩散特性； 通过高阶项的引入，增强缺陷区域的热边界清晰度，减少边界区域的噪声干扰； 所述变分正则化方法包括： 定义基于热传导方程残差的目标函数，通过正则化项平衡热分布的拟合精度和数据平滑性； 所述正则化项包括二阶偏微分正则化项和四阶偏微分正则化项； 通过数值优化方法求解目标函数，优化得到设备表面和内部的温度分布。

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