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龙图腾网获悉北京博视像元科技有限公司申请的专利一种双频光栅条纹投影系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119714125B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510240021.9，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权一种双频光栅条纹投影系统是由李金华;杨军超;朱江兵设计研发完成，并于2025-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种双频光栅条纹投影系统在说明书摘要公布了：本发明公开一种双频光栅条纹投影系统，涉及结构光测量技术领域，包括：光源调制组、光栅调制组、分光棱镜和投影镜头；光源调制组包括第一LED光源、第二LED光源、第一准直透镜组和第二准直透镜组；光栅调制组包括第一光栅片、第二光栅片、第一压电陶瓷和第二压电陶瓷；光栅调制组中的第一压电陶瓷与第一光栅片连接，第二压电陶瓷与第二光栅片相连接，用于移动光栅片的位置，使光栅片底的条纹图案平移。该系统采用两个压电陶瓷驱动不同宽度的光栅片，分光棱镜进行合束，结构简单，可以实现低成本的双频四步相移图案。细的光栅条纹可以提升三维重建的测量精度，宽的光栅条纹可以提升三维重建的测量景深，从而提升结构光3D系统的适用场景。

本发明授权一种双频光栅条纹投影系统在权利要求书中公布了：1.一种双频光栅条纹投影系统，其特征在于，包括： 光源调制组1、光栅调制组2、分光棱镜3和投影镜头4；光源调制组1包括第一LED光源11、第二LED光源12、第一准直透镜组13和第二准直透镜组14；光栅调制组2包括第一光栅片21、第二光栅片22、第一压电陶瓷23和第二压电陶瓷24；光栅调制组中的第一压电陶瓷23与第一光栅片21相连接，第二压电陶瓷24与第二光栅片22相连接，用于移动光栅片的位置，使光栅片底的条纹图案平移；光源调制组中第一LED光源11发射的光源经第一准直透镜组13调制后照射至第一光栅片21，第二LED光源12发射的光源经第二准直透镜组14调制后照射至第二光栅片22，再由分光棱镜3把第一光栅片21、第二光栅片22调制好的结构光进行合束，最后通过投影镜头4投射到被测物体上，得到双频光栅条纹调制图案； 光源调制组1和光栅调制组2的数量为按需设置，用于获取多频光栅条纹调制图案； 基于双频条纹调制图案生成的双频高度图进行被测物体的三维重建，得到最终的高精度三维模型，具体包括以下子步骤： 结合当前应用场景的测量需求计算测量精度与测量景深的融合系数；取被测物体n个符合预期的测量数据作为标准数据，连同当前的n个双频高度数据带入到融合系数计算公式：中，得到测量精度与测量景深的融合系数，记作和，其中为第j个测量精度融合系数的预估值，为第j个测量景深融合系数的预估值，j取值1~m，m为融合系数预估值的总数量，下标j在每次求和公式计算完成后迭代，为双频高度图中细光栅条纹测量出的第i个点位的高度数据，为双频高度图中宽光栅条纹测量出的第i个点位的高度数据，Y为第i个点位的预期测量数据，i取值1~n，n为参与计算的点位总数量，返回括号内表达式计算结果为最小时的和； 基于计算出的融合系数对双频高度图中的高度数据进行融合；将双频高度图中的各个点位高度数据带入到高度融合公式：中，得到融合后的点位高度数据，收集这些数据到一个集合中，为后续的三维重建提供数据支持，其中为融合后的点位高度数据，为双频高度图中细光栅条纹测量出的高度数据，为双频高度图中宽光栅条纹测量出的高度数据，和分别是测量精度与测量景深的融合系数，为条纹间距变化一个单位时产生的误差，为预设的标准条纹间距，为细光栅条纹的间距，为宽光栅条纹的间距； 使用融合后的高度数据重建被测物体的三维模型。

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