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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利一种基于XFROG的高精度中红外超短脉冲电场测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119738051B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411832299.7，技术领域涉及：G01J11/00；该发明授权一种基于XFROG的高精度中红外超短脉冲电场测量装置是由郭治成;陈仁辉;李武振;周志远;史保森设计研发完成，并于2024-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于XFROG的高精度中红外超短脉冲电场测量装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于XFROG的高精度中红外超短脉冲电场测量装置，涉及超短脉冲电场测量技术领域，本XFROG系统的和频方案可以提高和频泵浦光的功率，能够有效地对弱中红外脉冲进行频率变换，将其更多的转换到可见‑近红外波段，完成探测。相比于FROG方案，我们能探测到的中红外脉冲能够更弱，并且在探测强的中红外脉冲时也有能够提高泵浦光功率，提高转换效率高的优势，变换到可见‑近红外的脉冲光越多，我们得到的脉冲信息就越接近于其本身。

本发明授权一种基于XFROG的高精度中红外超短脉冲电场测量装置在权利要求书中公布了：1.一种基于XFROG的高精度中红外超短脉冲电场测量装置，其特征在于，包括： 光纤耦合头二FC1，用于将光纤激光器中心波长为1040nm的脉冲光输出到空间光路，之后通过偏振分束镜PBS分为两束，通过调整PBS前的波片组改变两束脉冲光的功率，其中一束与中心波长为1560nm的连续光通过双色镜DM进行合束，利用波片二HWP调整两束光的偏振，移动双色镜DM前两路光的透镜L将其聚焦到PPLN晶体内部进行差频，调整晶体温度至最佳匹配温度，产生中心波长为3120nm的脉冲光； 3120nm的中红外脉冲经过反射镜M改变传播方向后，通过第一个中红外透镜三L3避免过度发散，将其与PBS分出的另一束1040nm脉冲光通过双色镜一DM1进行合束，调整两路光程至相等，移动双色镜一DM1前两路光的透镜二L2将其聚焦到晶体PPLN1内，调整晶体PPLN1温度至最佳匹配温度，产生中心波长为780nm的脉冲光，滤掉泵浦光后，将和频产生的脉冲光通过空间光路耦合进入光纤耦合头三FC2接光谱仪，对其光谱数据进行分析； 接着操控反射镜组电动位移台，调整1040nm脉冲光的时延，记录与时延对应的光谱数据，通过编写计算机的脉冲迭代算法处理测量得到的数据实现波形的重构；当计算出的强度分布与实测结果的误差低于一个预设误差值时，认定波形的重构完成。

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