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龙图腾网获悉中国人民解放军军事科学院防化研究院申请的专利一种有机闪烁探测器能量分辨率刻度方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120044576B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411929610.X，技术领域涉及：G01T1/20；该发明授权一种有机闪烁探测器能量分辨率刻度方法是由周红召;肖无云;孙涛;刘海侠;李崇伟;王东玺;管弦;樊海军设计研发完成，并于2024-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种有机闪烁探测器能量分辨率刻度方法在说明书摘要公布了：本发明针对有机闪烁探测器对γ射线响应能谱缺少全能峰，导致能量分辨率难以刻度的问题，以康普顿符合测量实验为基础，消除偶然符合事件和湮灭符合事件的影响，在康普顿边缘处形成准高斯峰。通过蒙卡模拟获取真符合事件的能量沉积谱，进而计算康普顿边缘处的能量分辨率。然后利用这些能量分辨率拟合计算表达式待定参数，实现能量分辨率的刻度。采用该方法对一种有机闪烁探测器开展了能量分辨率刻度，并将刻度结果加入蒙卡模拟后，所得探测器对γ射线的模拟谱与实测谱吻合良好，验证了方法的准确性。本发明所公开的有机闪烁探测器能量分辨率刻度方法操作简单、准确性好、通用性强，适用于各类塑闪、液闪和有机晶体等探测器的能量分辨率刻度。

本发明授权一种有机闪烁探测器能量分辨率刻度方法在权利要求书中公布了：1.一种有机闪烁探测器能量分辨率刻度方法，所述方法包括如下步骤： S1、通过康普顿符合测量实验获取有机闪烁探测器对γ源的总符合能谱Qt； S2、使用数字化仪测量有机闪烁探测器对γ源的无符合能谱Qd； S3、按照下式计算偶然符合能谱Qcc； 其中Ct和Cd分别为有无符合条件下能谱中连续坪的计数总和； S4、按照下式计算能谱Qtemp； Qtemp＝Qt-Qcc2 S5、对除22Na以外的γ源，Qtemp即为真符合能谱Qtc；对22Na，在S4步骤的基础上，按照式1计算湮灭符合能谱Qac，真符合能谱为Qtc＝Qtemp-Qac； S6、对Qtc拟合，根据拟合参数计算半高宽FWHMtc； S7、模拟计算有机闪烁探测器中真符合事件的能量沉积谱Qdep； S8、对Qdep拟合，根据拟合参数计算半高宽FWHMdep； S9、按照下式计算康普顿边缘处能量分辨率的半高宽FWHMreso； S10、用下式拟合不同康普顿边缘处的FWHMreso，确定参数a1、a2和a3； 其中L为有机闪烁体光产额。

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