芯卓科技(浙江)有限公司刘俊良获国家专利权
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龙图腾网获悉芯卓科技(浙江)有限公司申请的专利测试接口结构和芯片测试设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120254566B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510409677.9,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权测试接口结构和芯片测试设备是由刘俊良;陈和也;林彬宜;徐靖奕设计研发完成,并于2025-04-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试接口结构和芯片测试设备在说明书摘要公布了:本发明涉及芯片测试技术领域,具体涉及测试接口结构和芯片测试设备。该测试接口结构包括:基板,基板用于设置在芯片承载平台的上方且用于安装在光源提供器的底部;基板设有多个间隔分布并且贯穿延伸的开孔,开孔设有透光的分隔结构,分隔结构配置成能够在其与光源提供器之间形成具有干燥环境的第一分隔空间,并且分隔结构还配置成能够与芯片承载平台之间形成允许充入干燥气体或者抽真空的第二分隔空间;以及多个物镜,多个物镜一一对应地安装于多个开孔中,并且物镜位于分隔结构的底面的上方。采用本发明的测试接口结构,能够使物镜的视野清晰并便于测试。
本发明授权测试接口结构和芯片测试设备在权利要求书中公布了:1.一种测试接口结构,其特征在于,包括: 基板1,所述基板1用于设置在芯片承载平台5的上方且用于安装在光源提供器4的底部;所述基板1设有多个间隔分布并且贯穿延伸的开孔11,所述开孔11设有透光的分隔结构2,所述分隔结构2配置成能够在其与所述光源提供器4之间形成具有干燥环境的第一分隔空间12,并且所述分隔结构2还配置成能够与所述芯片承载平台5之间形成允许充入干燥气体或者抽真空的第二分隔空间13;以及 多个物镜3,多个所述物镜3一一对应地安装于多个所述开孔11中,并且所述物镜3位于所述分隔结构2的底面的上方; 其中,所述分隔结构2将所述第一分隔空间12和所述第二分隔空间13隔离开,以防止所述第一分隔空间12和所述第二分隔空间13中发生气体对流。
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