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龙图腾网获悉深圳市战峰科技有限公司申请的专利一种筛选存储芯片安全性指标的测试算法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120412697B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510539627.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种筛选存储芯片安全性指标的测试算法是由张卫伟;张亚伟;李婷婷设计研发完成，并于2025-04-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种筛选存储芯片安全性指标的测试算法在说明书摘要公布了：本发明涉及存储芯片测试技术领域，具体公开了一种筛选存储芯片安全性指标的测试算法，所述算法包括以下步骤：首先按照固定温差间隔建立多组不同温度的监测环境，通过结合存储芯片在读写测试中每次读写作业的读写数据，可以对各个存储芯片在该次读写作业过程中的读写异常系数进行计算，该数据反映出了不同测试环境中存储芯片在一次读写作业中的读写状态是否合格，之后通过结合一次读写测试中各个存储芯片的测试数据对读写稳定性做出分析，并结合该数据对各个存储芯片的读写次数进行预估，并结合预设的读写作业次数阈值对存储芯片的安全性进行分析，即可减少大量的读写作业测试，从而提高存储芯片安全性的测试效率。

本发明授权一种筛选存储芯片安全性指标的测试算法在权利要求书中公布了：1.一种筛选存储芯片安全性指标的测试算法，其特征在于，所述算法包括以下步骤： S1：首先按照固定温差间隔设置多组不同温度的监测环境，并将各个同类型存储芯片置于各个所述监测环境下进行读写测试； S2：通过数据采集模块采集各个所述存储芯片在每次读写作业中生成的实时读写数据； S3：通过结合采集到的若干个读写数据，一一映射至各个存储芯片在对应读写作业过程中的读写异常系数，并对所述读写异常系数进行计算； S4：通过结合各个存储芯片在一次读写作业过程中的读写异常系数，对该次读写作业是否存在异常进行分析，并对异常读写作业进行标注； S5：通过结合一次读写测试中所有存储芯片的测试数据，计算获得各个存储芯片在一次读写测试中的读写异常系数波动值，并根据该数据对各个存储芯片的读写稳定性做出分析； S6：通过结合各个存储芯片在一次读写测试中的读写异常系数波动值，对各个存储芯片的读写次数进行预估，并结合预设的读写作业次数阈值对存储芯片的安全性进行分析，并根据分析结果对存储芯片进行筛选。

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