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龙图腾网获悉长鑫存储产品(合肥)有限公司申请的专利一种芯片导向治具、测试插座及测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120722169B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511134029.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片导向治具、测试插座及测试装置是由宋圣旺;王强设计研发完成，并于2025-08-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片导向治具、测试插座及测试装置在说明书摘要公布了：本公开提供了一种芯片导向治具、测试插座及测试装置，芯片导向治具用于与测试插座配合进行芯片定位安装，芯片导向治具包括基体、导向结构和第一对准补偿结构，导向结构设置于基体，导向结构限定出引导芯片进入测试插座的导向通道，导向结构被设置为能够相对基体在第一方向和第二方向中的至少一者上移动，第一对准补偿结构设置于导向结构，第一对准补偿结构用于调整导向结构相对测试插座的位置。本公开中，第一对准补偿结构能够对导向结构在第一方向和或第二方向上的位置进行自动纠偏，使导向结构的导向通道与测试插座对准，保证芯片通过导向通道后能够被精准装载至测试插座中的正确位置，以与测试插座形成良好接触，提升测试成功率和效率。

本发明授权一种芯片导向治具、测试插座及测试装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片导向治具，其特征在于，用于与测试插座配合进行芯片定位安装，所述芯片导向治具包括： 基体； 导向结构，设置于所述基体，所述导向结构用于限定出引导芯片进入所述测试插座的导向通道，所述导向结构被设置为能够相对所述基体在第一方向和第二方向中的至少一者上移动，所述第一方向和所述第二方向均与所述导向通道的导通方向垂直； 第一对准补偿结构，设置于所述导向结构，所述第一对准补偿结构用于与所述测试插座之间产生相互作用力，以调整所述导向结构相对所述测试插座的位置； 其中，所述基体包括触发结构，所述触发结构用于解锁撑开所述测试插座的夹持机构； 所述触发结构的内壁的部分结构凸起形成支撑结构，所述导向结构的部分外壁面向外凸起形成配合结构，沿所述导向通道的导通方向，所述支撑结构与所述配合结构至少部分相对设置，所述支撑结构与所述配合结构滚动连接或滑动连接，使所述导向结构能够相对所述触发结构沿所述第一方向和或所述第二方向位移，以完成纠偏。

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