北京奥普托科微电子技术有限公司李锦程获国家专利权
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龙图腾网获悉北京奥普托科微电子技术有限公司申请的专利一种非球面元件的面形调整方法和程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120745170B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510796111.6，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种非球面元件的面形调整方法和程序产品是由李锦程;蒋健君;方春钰;李星辰;白丽园设计研发完成，并于2025-06-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种非球面元件的面形调整方法和程序产品在说明书摘要公布了：本申请实施例提供了一种非球面元件的面形调整方法和程序产品，包括：根据获取到的面型参数，拟合出目标非球面元件对应的拟合球面。根据预设的孔径采样间隔，精准确定目标非球面元件和拟合球面上多个孔径采样点对应的矢高数据。根据每个孔径采样点在目标非球面元件和拟合球面上对应的矢高数据，可以进一步确定出各孔径采样点对应的位置差异数据。本申请提供的技术方案能够通过拟合球面的方式精准调整非球面元件，避免非球面元件生产过程中反曲问题的出现以及影响。面形调整的处理效率和实用性获得提升，有效降低元件的工艺加工难度，提升元件生产效率和精度，使得应用非球面元件的光学系统的处理效果得以增强。
本发明授权一种非球面元件的面形调整方法和程序产品在权利要求书中公布了：1.一种非球面元件的面形调整方法，其特征在于，包括： 获取目标非球面元件对应的面型参数； 根据所述面型参数，确定所述目标非球面元件对应的拟合球面； 根据预设的孔径采样间隔，确定每个孔径采样间隔分别在所述目标非球面元件上和所述拟合球面上对应的孔径采样点； 针对所述目标非球面元件的每个所述孔径采样点，确定该孔径采样点与对应孔径采样点之间的位置差异数据，所述对应孔径采样点为所述拟合球面上与该孔径采样点处于相同孔径采样间隔的孔径采样点； 根据所述目标非球面元件的多个孔径采样点对应的位置差异数据，对所述目标非球面元件进行反曲面形调整，得到调整后的目标非球面元件。
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