长鑫存储产品(合肥)有限公司陈然获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储产品(合肥)有限公司申请的专利模型训练方法、芯片托盘检测方法及装置、设备和产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120807526B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511309238.7,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权模型训练方法、芯片托盘检测方法及装置、设备和产品是由陈然;朱煜伟;侯智豪;徐飞;胡洋设计研发完成,并于2025-09-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本模型训练方法、芯片托盘检测方法及装置、设备和产品在说明书摘要公布了:本公开是关于一种模型训练方法、芯片托盘检测方法及装置、设备和产品,涉及半导体测试技术领域。该方法包括:获取预先构建的初始模型与样本检测图像;由初始模型基于样本检测图像的原始输入特征与第一通道卷积特征,生成第二通道卷积特征;对第二通道卷积特征进行最大平均注意力特征提取,得到第一初始中间特征;对第一初始中间特征进行增强感受野特征提取,得到第二初始中间特征;对第一初始中间特征与第二初始中间特征进行特征提取处理,得到样本图像检测结果;基于样本图像检测结果与托盘区域标识之间的差值进行训练,得到芯片托盘检测模型。本公开可以提供一种针对低纹理黑色Tray盘的缝隙或凹槽的检测能力。
本发明授权模型训练方法、芯片托盘检测方法及装置、设备和产品在权利要求书中公布了:1.一种模型训练方法,其特征在于,包括: 获取预先构建的初始模型与样本检测图像,所述样本检测图像包括托盘区域标识,所述托盘区域标识包括托盘位置标识与托盘缝隙标识; 由所述初始模型基于所述样本检测图像的原始输入特征与第一通道卷积特征,生成第二通道卷积特征,所述第一通道卷积特征通过对所述原始输入特征进行残差可分离通道卷积处理得到; 对所述第二通道卷积特征进行最大平均注意力特征提取,得到第一初始中间特征; 对所述第一初始中间特征进行增强感受野特征提取,得到第二初始中间特征; 对所述第一初始中间特征与所述第二初始中间特征进行特征提取处理,得到样本图像检测结果,所述样本图像检测结果包括托盘数量检测结果与托盘缝隙检测结果; 基于所述样本图像检测结果与所述托盘区域标识之间的差值,对所述初始模型进行训练,得到芯片托盘检测模型。
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