中国科学院长春光学精密机械与物理研究所王玉坤获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利用于光学元件厚度检测的SD-OCT系统及其检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120876579B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511388769.X，技术领域涉及：G06T7/60；该发明授权用于光学元件厚度检测的SD-OCT系统及其检测方法是由王玉坤;王孝坤;周政;薛栋林;张学军设计研发完成，并于2025-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于光学元件厚度检测的SD-OCT系统及其检测方法在说明书摘要公布了：本发明属于光学元件检测领域，尤其涉及一种用于光学元件厚度检测的SD‑OCT系统及其检测方法，检测方法包括对待测光学元件的OCT图像进行掩膜及高斯滤波处理；采用标准差寻峰算法对经过高斯滤波的OCT图像进行峰值点检测，识别出膜层界面处的光强突变位置；对检测到的峰值点进行众数分析，确定膜层的数量；对众数分析后的峰值点进行连通域分析，过滤掉孤立的峰值点，并对缺失位置进行插值处理；对连通域分析后的峰值点进行曲线拟合，确定每个膜层的位置，并计算待测光学元件的实际厚度。本检测方法融合掩膜、高斯滤波、标准差寻峰、众数分析与连通域过滤等步骤，有效消除了伪影和噪声干扰，实现了膜层边界的精确定位。
本发明授权用于光学元件厚度检测的SD-OCT系统及其检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于OCT图像的光学元件厚度检测方法，利用SD-OCT系统实现，其特征在于，包括如下步骤： S1：对待测光学元件的OCT图像进行掩膜处理，去除非目标区域，保留目标区域； S2：对掩膜处理后的OCT图像进行高斯滤波，抑制OCT图像中的噪声； S3：采用标准差寻峰算法对经过高斯滤波的OCT图像进行峰值点检测，识别出膜层界面处的光强突变位置； S4：对检测到的峰值点进行众数分析，确定膜层的数量； S5：对众数分析后的峰值点进行连通域分析，过滤掉孤立的峰值点，并对缺失位置进行插值处理； S6：对连通域分析后的峰值点进行曲线拟合，确定每个膜层的位置，并根据膜层之间相隔的像素数量以及SD-OCT系统的最大成像深度，计算待测光学元件的实际厚度。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，其通讯地址为：130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励