苏州元脑智能科技有限公司董彦岩获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利一种故障测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120877834B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511385609.X，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种故障测试方法是由董彦岩设计研发完成，并于2025-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种故障测试方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种故障测试方法，涉及故障测试技术领域，包括响应于接收到故障测试指令，解析故障测试指令，确定故障测试模式；响应于故障测试模式为阻抗突变测试，获取存储单元的存储参数并确定阻抗基线；基于阻抗基线生成阻抗校准信号并下发至故障模拟单元，以使故障模拟单元执行阻抗校准；获取故障模拟单元返回的阻抗校准残差，基于阻抗校准残差确定阻抗突变模拟参数；基于阻抗突变模拟参数，生成阻抗突变模拟控制信号并下发至故障模拟单元，以使故障模拟单元在数据存储链路中施加阻抗突变。本申请能够在数据存储链路中对存储单元施加阻抗突变，从而解决相关技术中缺乏对链路瞬态阻抗突变进行可控模拟的问题，提高故障测试的全面性。
本发明授权一种故障测试方法在权利要求书中公布了：1.一种故障测试方法，其特征在于，应用于数据存储链路中的控制器，所述数据存储链路还包括存储单元以及分别与所述控制器和所述存储单元连接的故障模拟单元，所述方法包括： 响应于接收到故障测试指令，解析所述故障测试指令，确定故障测试模式； 响应于所述故障测试模式为阻抗突变测试，获取所述存储单元的存储参数并确定阻抗基线； 基于所述阻抗基线生成阻抗校准信号并下发至所述故障模拟单元，以使所述故障模拟单元执行阻抗校准； 获取所述故障模拟单元返回的阻抗校准残差，基于所述阻抗校准残差确定阻抗突变模拟参数； 基于所述阻抗突变模拟参数，生成阻抗突变模拟控制信号并下发至所述故障模拟单元，以使所述故障模拟单元根据所述阻抗突变模拟控制信号在所述数据存储链路中施加阻抗突变； 响应于所述数据存储链路被施加阻抗突变，记录所述存储单元的性能表现以得到故障测试结果。
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