西安工业大学张岩获国家专利权
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龙图腾网获悉西安工业大学申请的专利一种折光率无损耗测量装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223624120U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520313742.3，技术领域涉及：G01N21/41；该实用新型一种折光率无损耗测量装置是由张岩;于天宇;王亦天;蔚娟;杨鹏飞设计研发完成，并于2025-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种折光率无损耗测量装置在说明书摘要公布了：本实用新型属于量子精密测量技术领域，尤其涉及一种折光率无损耗测量装置，包括外壳，外壳顶部两侧的通口处均焊接有晶体仓；晶体仓一侧的进出口处设置有密封仓，密封仓靠近晶体仓的一侧固定有平移组件，平移组件的活动端安装有用于夹持光学晶体的夹持组件。该折光率无损耗测量装置，通过当光学晶体被推入晶体仓的内部时，可通过平移组件对光学晶体的位置进行横向平移，可根据实际的测量需求，在不对光学晶体进行拆卸的情况下，对光学晶体进行平移控制其是否位于测量区域，满足测量条件，两次检测在不开关密封仓的情况下即可进行，防止测量环境出现变化，保证测量结果的准确性，也提高了检测的工作效率。
本实用新型一种折光率无损耗测量装置在权利要求书中公布了：1.一种折光率无损耗测量装置，其特征在于：包括外壳1，所述外壳1顶部两侧的通口处均焊接有晶体仓11，且外壳1与两个晶体仓11的内腔之间形成有测量腔，所述测量腔的内部安装有测量主体； 所述晶体仓11一侧的进出口处设置有密封仓3，所述密封仓3靠近晶体仓11的一侧固定有平移组件7，且平移组件7穿过晶体仓11上的进出口进入晶体仓11的内部，所述平移组件7的活动端安装有用于夹持光学晶体的夹持组件8。
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