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龙图腾网获悉中国核电工程有限公司申请的专利一种表面热电离质谱仪的设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114883173B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210502531.5，技术领域涉及：H01J49/06；该发明授权一种表面热电离质谱仪的设计方法是由刘权卫;王志强;赵宇菲;张兆清;李思凡;马敬;于利祥;陈勇;侯留东;沈琛林设计研发完成，并于2022-05-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种表面热电离质谱仪的设计方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种表面热电离质谱仪的设计方法，包括：初步设计离子透镜系统结构并进行三维建模，模拟从离子源产生的离子束经过离子透镜系统的离子聚焦状态，判断传输效果是否满足设计要求，若不满足，则修正其结构参数，并重新仿真，若满足，确定离子透镜系统的结构；初步设计离子光学系统结构并进行三维建模，模拟在设定加速电压时，从离子透镜系统中出来的不同质量的离子束进入离子光子系统的飞行偏转轨迹，判断聚焦效果是否满足设计要求，若不满足，则修正其结构参数，并重新仿真，若满足，确定离子光学系统的结构；进行离子接收器参数的设计。本发明为热电离质谱仪的设计和研制提供可靠的理论依据。

本发明授权一种表面热电离质谱仪的设计方法在权利要求书中公布了：1.一种表面热电离质谱仪的设计方法，其特征在于，包括： S1：根据离子透镜系统设计要求和历史数据结果，进行离子透镜系统结构的初步设计，获取离子透镜系统的初始结构参数，并进行三维建模， S2：利用离子光学模拟软件，模拟从离子源产生的离子束经过离子透镜系统的离子聚焦状态， S3：判断传输效果是否满足设计要求，若不满足，则修正离子透镜系统的结构参数，并返回步骤S2，若满足，输出离子透镜系统的结构参数； S4：根据离子光学系统设计要求、步骤S3的模拟结果以及历史数据结果，进行离子光学系统结构的初步设计，获取离子光学系统的初始结构参数，并进行三维建模， S5：利用三维电磁场仿真计算软件，模拟在设定加速电压时，从离子透镜系统中出来的不同质量的离子束进入离子光学系统的飞行偏转轨迹， S6：判断聚焦效果是否满足设计要求，若不满足，则修正离子光学系统的结构参数，并返回步骤S5，若满足，输出离子光学系统的结构参数； S7：根据离子接收器设计要求，以及步骤S6的模拟结果，进行离子接收器参数的设计。

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