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龙图腾网获悉苏州辉垦电子科技有限公司申请的专利一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114994515B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210826512.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2022-07-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构在说明书摘要公布了：本发明公开了一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构，包括基座，基座的下方连接有固定座，基座的上表面开设有两个第三凹槽和两个第五凹槽，第三凹槽内设有第一安装孔，第五凹槽内设有第二安装孔，固定座上设有两个第三安装孔和两个第四安装孔，第三凹槽内装设有第一底板，第一底板的下方连接有多个第一探针固定板，第一底板和第一探针固定板上均设有多个第一探针插孔，第五凹槽内装设有第二底板，第二底板的下方连接有多个第二探针固定板，第二底板和第二探针固定板上均设有多个第二探针插孔，第一探针插孔和第二探针插孔内均插设有探针，固定座的侧边设有多个上下倾斜的斜槽。本发明的有益效果是：该探针塔结构的高度调节方便、简单。

本发明授权一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构在权利要求书中公布了：1.一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构，其特征在于：包括基座1，所述基座1的下方连接有固定座2，所述基座1和固定座2的中间均开设有上下贯穿的中心孔，所述基座1的上表面开设有两个第三凹槽13和两个第五凹槽16，两个所述第三凹槽13对称设置于基座1的中心孔的两侧，两个所述第五凹槽16位于两个第三凹槽13的中间且分设于第三凹槽13的两端，两个所述第五凹槽16对称设置于基座1的中心孔的两侧，所述第三凹槽13内设有贯穿基座1的第一安装孔14，所述第五凹槽16内设有贯穿基座1的第二安装孔17，所述固定座2上设有与两个第一安装孔14相对应的两个第三安装孔21，所述固定座2上设有与两个第二安装孔17相对应的两个第四安装孔23，所述第三凹槽13内装设有第一底板3，所述第一底板3的下方连接有多个第一探针固定板4，多个所述第一探针固定板4分别装设于第一安装孔14和第三安装孔21内，所述第一底板3和第一探针固定板4上均设有多个第一探针插孔41，所述第五凹槽16内装设有第二底板5，所述第二底板5的下方连接有多个第二探针固定板6，多个所述第二探针固定板6分别装设于第二安装孔17和第四安装孔23内，所述第二底板5和第二探针固定板6上均设有多个第二探针插孔61，所述第一探针插孔41和第二探针插孔61内均插设有探针7，所述固定座2的侧边设有多个上下倾斜的斜槽25；所述斜槽25用于与芯片测试机的上耦合板上的滚子轴承9配合，通过所述滚子轴承9在斜槽25内的滚动，使得所述滚子轴承9和斜槽25的接触面的高低不同，实现固定座25的高度调整，相邻两个所述第一探针固定板4和相邻两个第二探针固定板6之间均会产生一个错位，该错位会对所述第一探针插孔41和第二探针插孔61内插装的探针7形成阻碍，多个所述第一探针固定板4和多个第二探针固定板6对探针7形成的阻碍能够对探针7实现固定。

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